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測定器(抵抗) - 企業と製品の一覧

更新日: 集計期間:2025年04月16日~2025年05月13日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。

製品一覧

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大地比抵抗測定器

土木・建築業界必見!ボーリング実施前に概略地質調査が低コストで可能

当製品は、大地比抵抗測定(電気探査法)を迅速・正確に調査測定 可能な測定器です。 電圧、電流、抵抗測定値は視認性の良いデジタル表示で、 持ち運びに便利なハンディタイプケース。 4端子抵抗測定法を用いて2電極間の抵抗を正確に測定します。 【特長】 ■大地比抵抗測定(電気探査法)を迅速・正確に調査測定 ■ボーリング着工前に概略地質調査が可能 ■簡単な操作で測定(電圧/抵抗測定レンジ切換)が可能 ■電圧出力レンジ(600V/300V/150V)、抵抗測定レンジ(1kΩ/400Ω/4Ω) ■持ち運びに便利なハンディタイプケース(約8.5kg) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他計測・記録・測定器

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抵抗率/シート抵抗測定器【CRESBOX】

抵抗率/シート抵抗測定器【CRESBOX】

ナプソン株式会社は、半導体ウエハやFPD基板の各種測定システムを開発・製造・販売しております。 抵抗率/シート抵抗に関するあらゆるニーズにお応えし、仕様設計からアフターケアまで、最新の技術と豊富な経験を活かして、高精度・高性能なシステムをご提供いたします。 その他製品ございますので、詳細はお問い合わせ下さい。

  • 半導体検査/試験装置
  • その他計測・記録・測定器

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デモ機有 試験・測定装置『DESCO アナログ表面抵抗値測定器』

【デモ機有】自動で測定範囲の電圧を選択!適合性検証ができるアナログ表面抵抗値測定器

『DESCO アナログ表面抵抗値測定器』は、適合性検証のためのアナログ式表面抵抗測定器です。 ESD TR53適合性検証に従って、自動で測定範囲の電圧を選択。抵抗範囲1.0×10³Ω ~ 1.0×10¹²Ω(±10%の精度)を測定します。 電池残量が少なくなるとLEDランプが点灯してお知らせ。9Vの電池で持ち運び操作もできます。 【特長】 ■自動で測定範囲の電圧を選択 ■9Vの電池で持ち運び操作可能 ■抵抗範囲1.0×10³Ω ~ 1.0×10¹²Ω(±10%の精度)を測定 ■電池残量が少なくなるとLEDランプが点灯してお知らせ ■アメリカ製 詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 絶縁抵抗計
  • その他計測・記録・測定器

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拡がり抵抗測定装置『SRP-170/2100』

PN接合の深さおよびキャリヤ濃度分布を測定!オプションにより表面抵抗測定可!

当社が取り扱う、拡がり抵抗測定装置『SRP-170/2100』をご紹介します。 斜め研磨したSiウェハーを深さ方向に2探針をコンタクトさせ、 そのプローブ間の拡がり抵抗値からSiの深さ方向の比抵抗プロファイル、 EPI層の厚み、PN接合の深さおよびキャリヤ濃度分布を測定。 「SRP2000」は、プローブのコンディショニング、ベベルアングルの測定、 標準サンプルのデータ入力などが全自動化し、多数サンプルの連続自動 測定ができ、サンプルは最大6個同時搭載可能です。 【特長】 ■世界標準キャリア濃度分布・プロファイル測定装置 ■測定自動化に対応(SRP-2100) ■オプションにより表面抵抗測定可(SRP-170) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他計測・記録・測定器
  • 半導体検査/試験装置
  • その他検査機器・装置

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接触式 抵抗測定器『WS-8800』

ウエハ搬送ロボット搭載による4探針法!全自動測定ソーター

『WS-8800』は、フルオートタイプ(全自動測定システム)の接触式 抵抗測定器です。 厚さ測定、PN測定、温度測定に対応可能です。(シリコンウエハ) カセット数はいくつでも対応することができます。 また、お客様の要望に応じ、様々にカスタマイズ可能です。 【特長】 ■全自動 ■セルフテスト機能、広範囲測定レンジ ■厚さ・周辺位置・温度補正機能(抵抗率(比抵抗)測定) ※詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードして下さい。

  • 半導体・IC
  • その他 計測・測定機器

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測定器『SRS-2010』

カスタマイズ可能な拡がり抵抗測定器

『SRS-2010』は、2探針法の拡がり抵抗測定システムです。 試料の深さ方向の抵抗率分布、エピタキシャル層の厚さ、PN接合の深さ、 キャリア濃度分布を求めることが可能です。 数mm角の領域から、数百μm程度のパターン領域の分析ができます。 測定した拡がり抵抗から、較正曲線を用いて低効率を算出します。 お客様の要望に応じ、様々にカスタマイズ可能です。 【特長】 ■2探針法 ■パターン領域の分析が可能 ■抵抗率を算出 ※詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードして下さい。

  • 半導体・IC
  • その他 計測・測定機器

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低抵抗測定装置

最大400Aの大電流でめっきサンプルのリアルタイム抵抗計測を実現!

当社では、『低抵抗測定装置』を用いた、めっき皮膜抵抗値と 電流深度測定を行っております。 本技術によって、適正な基材の選定と表層のめっき膜厚を最適化可能。 高い安全性を保持しつつ、低コストなコネクタ設計実現が期待できます。 【特長】 ■最大400Aの大電流 ■めっき部品の接触抵抗が測定可能 ■めっき部品の電流深度測定が可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • その他電子計測器
  • その他計測・記録・測定器

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非接触表面抵抗測定器

非接触、オンラインにてシート抵抗測定が可能

渦電流磁界を用いた非接触式シート抵抗測定器

  • その他計測・記録・測定器

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抵抗率・厚み測定器 【EC-80SCAN】

抵抗率・厚み測定器 【EC-80SCAN】

ナプソン株式会社は、半導体ウエハやFPD基板の各種測定システムを開発・製造・販売しております。 抵抗率/シート抵抗に関するあらゆるニーズにお応えし、仕様設計からアフターケアまで、最新の技術と豊富な経験を活かして、高精度・高性能なシステムをご提供いたします。 その他製品ございますので、詳細はお問い合わせ下さい。

  • 半導体検査/試験装置
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非接触表面抵抗測定器

非接触、オンラインでシート抵抗測定が可能!最大20mmのギャップで測定可能です

NAGY社の非接触表面抵抗測定器は、非接触、オンラインにてシート抵抗測定が可能です。渦電流磁界を用いた非接触式シート抵抗測定器で、非接触、オンラインにて非導電性基板上の導電膜を測定可能です。ITO等の透明電極や金属膜成膜プロセスのオンラインモニタリングに最適。既存成膜装置、搬送ラインへの組込が可能です。また、多様なアプリケーションに対応可能で、最大23mmの開口部により様々な基板(ガラス、プラスチックフィルム等)に対応します。多チャンネル対応(1~99チャンネル)で、常圧、真空下での稼動が可能です。 詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをご覧ください。

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接触抵抗測定装置『T-μM10型/M50型/M100型』

開閉器の接触抵抗を測定!測定電流自動解除機能付の接触抵抗測定装置

『T-μM10型/M50型/M100型』は、遮断器・断路器・開閉器などの接触抵抗を 四端子測定法で測定する接触抵抗測定装置です。 入力電圧はAC100V仕様とAC200V仕様の2種類があり、小型・軽量で持ち運びが容易。 「T-μM10型」は、出力電流が10A、「T-μM50型」は50A、「T-μM100型」は100A となっており、被測定部に電流を流し、その接触抵抗分の電圧降下を測定し 表示します。 【特長】 ■小型・軽量で持ち運びが容易 ■入力電圧はAC100V仕様とAC200V仕様の2種類がある ■外部接続ケーブルは、誤接続防止を考えコネクタ分けしている ■測定した接触抵抗値を抵抗値表示と電圧値表示とに切換え出来る(M10型/M100型) ■非常に安価で精度も高くなっている(M50型) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他計測・記録・測定器

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抵抗率/シート抵抗測定器【RT-3000/RG-1000F】

抵抗率/シート抵抗測定器【RT-3000/RG-1000F】

ナプソン株式会社は、半導体ウエハやFPD基板の各種測定システムを開発・製造・販売しております。 抵抗率/シート抵抗に関するあらゆるニーズにお応えし、仕様設計からアフターケアまで、最新の技術と豊富な経験を活かして、高精度・高性能なシステムをご提供いたします。 その他製品ございますので、詳細はお問い合わせ下さい。

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超低抵抗測定器/AE-1152D

超低抵抗計

超低抵抗器の自動測定に最適

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  • LCRメータ

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比抵抗測定器

渦電流技術を用いて、非接触/非破壊にてシリコンインゴット/ブロックの抵抗を瞬時に測定

太陽電池のブロック/ウェハー/セルのマッピング測定可能な装置もご提供可能です。

  • 半導体検査/試験装置
  • その他電子計測器
  • 分析機器・装置

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全自動拡がり抵抗測定装置 SRP2000

全自動拡がり抵抗測定装置

SRP(Spreading Resistance Profiler)装置は,斜め研磨したSiウェハーを深さ方向に2探針をコンタクト させそのプローブ間の拡がり抵抗値からSiの深さ方向の比抵抗プロファイル,EPI層の厚み,PN接合の深さおよびキャリヤ濃度分布を測定する装置です。

  • その他検査機器・装置

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