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BGAオープン故障を見逃してしまう
検査タクトが長くなり、生産効率が低下してしまう
故障個所の特定が困難になる
ファンクションテストで不良原因が特定できない
不良原因の特定に時間がかかってしまう
工場全体の稼働効率が低下してしまう
上記以外
※この質問はイプロスによって自動で作成されました
【導入事例】実装基板の検査にJTAGテストを採用
アンドールシステムサポート株式会社
9MB
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