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太陽電池やパワーデバイスの開発に役立つ
各種酸化膜・窒化膜の評価に対して有効になる
UV-Vis・PL・XPSなどの分析手法での限界を乗り越えてしまう
XAFSとXPSの複合解析による効率的な評価が可能になる
酸化物半導体の研究に革新をもたらしてしまう
上記以外
※この質問はイプロスによって自動で作成されました
【分析事例】酸化・窒化薄膜のバンドギャップ評価_C0462
一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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