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帯電の影響を排除できない
軽元素を含む材料の評価が難しい
照明やLSIの性能が不明瞭になる
バルク材料の情報が欠けてしまう
絶縁物の評価が困難になる
素材の組成を正確に把握できない
メモリの信頼性が低下してしまう
上記以外
※この質問はイプロスによって自動で作成されました
【分析事例】GaNの部分状態密度測定_C0511
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