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表面だけでなく、深い領域の試料のXPS観察・測定ができる
埋め込まれたインターフェースを分析することができる
材料の内部の特性を調べることができる
硬X線の使用がラボでも可能になる
深いコアレベルにアクセスすることができる
放射光施設に行かずに硬X線光電子分光を行うことができる
ラボ環境でのHAXPES測定が可能になる
上記以外
※この質問はイプロスによって自動で作成されました
HAXPES-Lab（ラボ型硬X線光電子分光分析システム）製品詳細資料
シエンタ オミクロン株式会社
637KB
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