シエンタ オミクロン株式会社
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汎用XPSでは到達できなかった深さを分析できる
硬X線の使用がラボでも可能になる
材料のバルク特性を調べることができる
埋め込まれたインターフェースを分析することができる
表面だけでなく、深い領域の試料のXPS観察・測定ができる
ラボ環境でのHAXPES測定が可能になる
表面だけでなく、試料の内部の特性を調べることができる
上記以外
※この質問はイプロスによって自動で作成されました
HAXPES-Lab（ラボ型硬X線光電子分光分析システム）製品詳細資料
シエンタ オミクロン株式会社
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