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上面検査や下面検査の画像が不鮮明で微細な欠陥が見つけられない
パワーデバイス用チップに異物が付着してしまう
XYθズレによる焦点ズレが起きて微細な欠陥が見つけられない
パワーデバイス用チップに汚れが付着してしまう
パワーデバイス用チップの変色やシミが見つけられない
パワーデバイス用チップの検査に時間がかかりすぎてしまう
パワーデバイス用チップの寸法が規定外であることに気づけない
上記以外
※この質問はイプロスによって自動で作成されました
パワーデバイス用チップ外観検査装置『CI4000』
株式会社安永
932KB
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