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動機必須	具体的な検討のため情報収集のため
目的任意	新規導入既存入れ替え試作検討その他残り400文字
知りたい情報任意	価格納期仕様/スペック事例サンプルの有無デモ機の有無販売ルート
導入検討時期任意	1ヶ月以内 3ヶ月以内半年以内 1年以内未定
ご質問、お困りの点など任意	残り400文字
興味を持ったきっかけをお聞かせください任意	サンプルを回転させずにスピン解決MDCを行うことができる全てのk//において同じスポットを確保することができる ARPES分析を行う際に、サンプルを回転させる必要がなくなり、時間を節約できるマニピュレーターの要件が減少し、コストを削減できるサンプルを固定することで、行列要素の影響を避けることができる特許（WO2013/133739）を取得しており、高い精度を実現している kyの精度が向上し、0.1°以下の解像度を実現している上記以外 ※この質問はイプロスによって自動で作成されました

動機必須

具体的な検討のため

情報収集のため

目的任意

新規導入

既存入れ替え

試作検討

その他

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価格

納期

仕様/スペック

事例

サンプルの有無

デモ機の有無

販売ルート

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未定

ご質問、お困りの点など任意

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興味を持ったきっかけをお聞かせください

任意

サンプルを回転させずにスピン解決MDCを行うことができる

全てのk//において同じスポットを確保することができる

ARPES分析を行う際に、サンプルを回転させる必要がなくなり、時間を節約できる

マニピュレーターの要件が減少し、コストを削減できる

サンプルを固定することで、行列要素の影響を避けることができる

特許（WO2013/133739）を取得しており、高い精度を実現している

kyの精度が向上し、0.1°以下の解像度を実現している

上記以外

※この質問はイプロスによって自動で作成されました

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