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導入検討時期任意	1ヶ月以内 3ヶ月以内半年以内 1年以内未定
ご質問、お困りの点など任意	残り400文字
興味を持ったきっかけをお聞かせください任意	電子顕微鏡での観察時に表面の光沢が不均一になってしまう穴周辺のピント位置が合わなくなってしまう電子部品の信頼性が低下してしまう穴周辺が薄くなり、製品の強度が低下してしまう精密な分析作業で異常な結果が出てしまう結晶粒子が大きくなり、製品の品質が低下してしまう硬度が低くなり、製品の耐久性が低下してしまう上記以外 ※この質問はイプロスによって自動で作成されました

基本技術　4-3　カタログ画像.jpg

4-5 一般的な電成篩

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