株式会社フィッシャー・インストルメンツ
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薄膜の厚さが不均一になってしまう
プリント回路基板の厚さが不明瞭になってしまう
電気メッキが均一でなくなってしまう
膜厚測定が手間がかかる
電子部品の品質管理が困難になる
測定スポットが小さすぎて正確な測定ができない
機能性多層膜の測定が難しい
上記以外
※この質問はイプロスによって自動で作成されました
蛍光X線式測定装置『X-RAY XDLM 237』
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