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大容量の試験を少ない消費電力で行いたい
SiC半導体の評価試験を実機に搭載せずに行いたい
波形の確認をするために各種計測器を使用したい
損失や発熱、騒音、耐久性などの評価を行いたい
SiC半導体以外の試験器に応用したい
実環境に近い条件で評価試験を行いたい
IPMの試験を行いたい
上記以外
※この質問はイプロスによって自動で作成されました
SiC半導体評価用試験器
東京精電株式会社
138KB
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