マーポス株式会社
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プロセス中の厚み変動を把握できない
加工精度が不安定になる
ウェハーの厚さが一定でない
加工プロセスのコントロールが難しい
機械性能の評価が困難
部品の厚さが均一でない
厚膜層の検出が困難
上記以外
※この質問はイプロスによって自動で作成されました
光干渉測定器『NCG』
マーポス株式会社
9MB
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