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微小な部品の膜厚を測定し、製品の信頼性を確保する
高機能性メッキ表面の品質管理が簡単になり、不良品を減らす
電子部品のコーティング厚さを正確に測定し、品質を保証する
非破壊で微小部品の膜厚測定が可能になり、誤差を防ぐ
高精度な測定で、製品の性能向上につながる
多層メッキの素材分析が短時間で行え、生産効率が向上する
厚めのメッキ下の膜厚を測定し、製品の信頼性を高める
上記以外
※この質問はイプロスによって自動で作成されました
蛍光X線測定装置『X-RAY XDV-μ(集光レンズタイプ)』
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