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ICの制御が難しくなってしまう
ICのテスティングが一度に行えない
テスティング作業の精度が低くなってしまう
ICのテスティング結果が信頼性に欠けてしまう
テスティング治具の作成に時間がかかってしまう
テスティング作業のコストが増加してしまう
大量のICのテスティング作業が煩雑になってしまう
上記以外
※この質問はイプロスによって自動で作成されました
【資料】特注・システム、受託開発の事例
穂高電子株式会社
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