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動機必須	具体的な検討のため情報収集のため
興味を持ったきっかけをお聞かせください任意	全数検査を実現したい平面の高速測定が求められてしまう光沢面、透明な表面も測定したいウエハーのバンプや断面粗さを評価したい表面粗さや断面粗さを測定したい大型・重い測定物に対応したい極小部位の測定が必要になってしまう上記以外 ※この質問はイプロスによって自動で作成されました

動機必須

具体的な検討のため

情報収集のため

興味を持ったきっかけをお聞かせください

任意

全数検査を実現したい

平面の高速測定が求められてしまう

光沢面、透明な表面も測定したい

ウエハーのバンプや断面粗さを評価したい

表面粗さや断面粗さを測定したい

大型・重い測定物に対応したい

極小部位の測定が必要になってしまう

上記以外

※この質問はイプロスによって自動で作成されました

【測定事例集】半導体パッケージング関連：光学式3D表面形状測定機『MarSurf CL』

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