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動機必須	具体的な検討のため情報収集のため
興味を持ったきっかけをお聞かせください任意	半導体製造装置関係での検査に活用できる不良解析検査で機能検査で不良になった基板や市場で故障した基板の解析ができる EMSやEMDS企業での検査に活用できる試作基板の検査で設計変更に即応したファンクションテストが可能機種切り替え時の実装確認検査でマウントプログラムの確認やセット間違いを防ぐ量産品の検査を自動化し、無人で行うことができる通信インフラやサーバーでの検査に活用できる上記以外 ※この質問はイプロスによって自動で作成されました

動機必須

具体的な検討のため

情報収集のため

興味を持ったきっかけをお聞かせください

任意

半導体製造装置関係での検査に活用できる

不良解析検査で機能検査で不良になった基板や市場で故障した基板の解析ができる

EMSやEMDS企業での検査に活用できる

試作基板の検査で設計変更に即応したファンクションテストが可能

機種切り替え時の実装確認検査でマウントプログラムの確認やセット間違いを防ぐ

量産品の検査を自動化し、無人で行うことができる

通信インフラやサーバーでの検査に活用できる

上記以外

※この質問はイプロスによって自動で作成されました

深層強化学習を用いたフライングプローブテスタの検査高速化【愛媛大学共同研究資料】

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