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動機必須	具体的な検討のため情報収集のため
興味を持ったきっかけをお聞かせください任意	マイクロフォーカスにより、高解像度で内部構造を観察できるスマートフォンの内部構造の確認ができる半導体や電子部品の品質保証や故障解析に使用できる X線CTによる解析が可能であるスマートフォンの内部メモリの状態を観察できる透視観察機能や3次元斜めCT機能、直交CT機能を使い分けて効率的な解析ができるワイヤーの状態を観察できる上記以外 ※この質問はイプロスによって自動で作成されました

動機必須

具体的な検討のため

情報収集のため

興味を持ったきっかけをお聞かせください

任意

マイクロフォーカスにより、高解像度で内部構造を観察できる

スマートフォンの内部構造の確認ができる

半導体や電子部品の品質保証や故障解析に使用できる

X線CTによる解析が可能である

スマートフォンの内部メモリの状態を観察できる

透視観察機能や3次元斜めCT機能、直交CT機能を使い分けて効率的な解析ができる

ワイヤーの状態を観察できる

上記以外

※この質問はイプロスによって自動で作成されました

【UHS_X線CTシステム撮影事例】スマートフォン(2018年モデル)

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