【半導体製造向け】127M CoaXPress 高解像度カメラ
1億2700万画素で半導体製造の検査効率を向上
半導体製造業界では、製品の品質を確保するために、ウェーハやチップの微細な欠陥を正確に検出することが求められます。特に、製造プロセスの高度化に伴い、より高い解像度と精度での検査が不可欠です。微細な欠陥を見逃すと、製品の歩留まり低下や信頼性の問題につながる可能性があります。当社の127M CoaXPress高解像度カメラは、1億2700万画素の超高解像度により、肉眼では捉えられない微細な欠陥まで鮮明に検出します。 【活用シーン】 ・ウェーハの異物検査 ・チップのクラック検査 ・回路パターンの検査 【導入の効果】 ・検査時間の短縮 ・不良品の早期発見 ・品質管理の向上
- 企業:株式会社シーアイエス
- 価格:応相談