日本製｜SWIRエリアカメラ WAA-1300-GE-TEC
TEC冷却内蔵で安定した高感度撮像。400〜1700 nm対応の可視光+SWIR産業用エリアスキャンカメラ
『WAA-1300-GE-TEC』は、400〜1700 nmの広帯域（可視光+SWIR）に対応したInGaAs産業用エリアスキャンカメラです。 ペルチェ冷却（TEC）システムを内蔵し、ダークノイズを最小限に抑えながら長時間にわたる安定した高感度撮像を実現。 通常の可視光カメラでは識別が困難な素材の組成・水分含有量・内部欠陥を高コントラストで可視化します。 130万画素（1280 × 1024）・最大90 fps・GigE Visionインターフェースを採用し、高速な産業検査にも対応します。 【特長】 ■ 可視光からSWIRまで400〜1700 nmの広帯域に対応するInGaAsエリアスキャンカメラ ■ ペルチェ冷却（TEC）内蔵でダークノイズを低減し、長時間安定稼働を実現 ■ 1.3MP（1280 × 1024）・最大90 fps・グローバルシャッタ採用 ■ ROI機能・ビニング機能で柔軟な撮像設定が可能 ■ GigE Visionインターフェースで標準ネットワーク環境への容易な組み込みを実現 ※詳細な分光感度特性や寸法図などはPDF資料をご参照ください。
- 企業：株式会社ジェイエイアイコーポレーション
- 価格：応相談
