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【特注品（コンセプトモデル）】3箇所同時傾斜測定、並列設置可能
開発の背景 狭い間隔で並んだ対象物を、一度に測定できる測定器ができないか？そんなお客様のご要望から開発いたしました。 1つの光源を分岐させ、複数箇所を測定し、1つの受光部を用いて測定する手法もあります。しかし当社では、3つの光源と3つの受光部を搭載した製品を開発いたしました。これにより受光部でスポットが重なり誤差の要因となる現象が起こらない製品を開発いたしました。 特長 ・3カ所同時測定 ・3つのセンサが独立、測定誤差や検出エラーがない ・センサとプロセッサ一体型
【受注生産品】青、緑、赤、赤外波長選択可能
開発の背景 青色や緑色の波長を搭載したオートコリメータはないか？そんなお客様のご要望から開発いたしました。 従来の製品では対応が難しかった波長やビーム径などを柔軟に対応可能な製品を開発いたしました。 特長 ・青波長から赤外波長まで、搭載波長選択可能 ・ビーム径の最適化が可能（φ0.5～φ8mm） ・低反射、高反射率の測定対象物が適切に測定できるよう受光感度の最適化が可能
【特注品（コンセプトモデル）】面倒な工事不要、真空チャンバーの外から測定可
開発の背景 恒温槽や、真空槽内の測定は改造や工事の手間が多く段取りに多くの時間が必要。このような問題を解決する測定器がないか？そんなお客様のご要望から開発いたしました。 恒温槽や、真空槽の外からガラス越しに測定することで、測定器の環境性能を管理する必要がなく、簡単に使える製品を開発いたしました。 特長 ・恒温槽、真空装置の外部から測定で、装置改造なし。しかも非接触測定 ・小型、軽量で手軽にセッティング ・非接触測定なので測定物を傷つけることなく安心、安全
【特注品（コンセプトモデル）】オートコリメータ + Cマウント で簡単測定
開発の背景 マシンビジョンカメラなどで使用される、レンズ鏡筒やＣマウント搭載製品の、光軸調整や検査が簡単にできないか？そんなお客様のご要望から開発いたしました。 Ｃマウント面を一体化した製品を開発。基準面を搭載することで、安定した測定結果を得られ、信頼性が高まり、作業のスピードアップも実現しました。 特長 ・業界初、Ｃマウント一体チルトセンサ ・Cマウントのフランジ面に対し、中心位置から垂直に測定レーザが射出 ・小型、高精度な測定
【特注品】異次元の高分解能（0.1arcsec / 0.5μrad）を持つチルトセンサ
開発の背景 超小型チルトセンサより分解能の高い測定器はないか？そんなお客様のご要望から開発いたしました。 当社史上最高分解能1arcsecの壁を超えた超高分解能センサの誕生で新たな測定の世界が始まります。 特長 ・世界最高クラスの高分解能（0.1arcsec/0.5μrad） ・プロセッサとセンサ分離型で様々なアプリケーションに対応 ・付属ソフトで簡単測定（for Windows)
【特注品】対向面の平行度を簡単測定
開発の背景 対向する面の平行度を簡単に測定する手法はないか？そんなお客様のご要望から開発いたしました。 測定したい隙間に設置するために薄型に設計。今まで感圧紙など数値管理ができない手法に代わり、手間のかかっていた平行度の測定をこの製品が解決いたしました。
【特注品】赤外レーザ搭載で高分解能を実現
開発の背景 超小型チルトセンサよりも分解能が高く、赤外レーザを搭載したオートコリメータができないか？そんなお客様のご要望から開発いたしました。 測定範囲を狭くすることで高分解能を実現、赤外光は目に見えないため、初期の位置合わせが困難になることが想定されたため、可視光である赤色のガイドレーザを搭載し開発いたしました。 特長 1. 世界最高クラスの高分解能（0.1arcmin/0.5μrad） 2. 赤外波長（1064nm）レーザ搭載 3. 可視光（赤色650nm ）ガイドレーザ搭載
