【近赤外撮影用】テレセントリックレンズ
高倍率観察が可能!半導体デバイスの内部の観察や電気・電子部品の非破壊検査などに使用できます
『テレセントリックレンズ』は、近赤外波長コート@1100nmを中心に 高い透過率を実現しました。 赤外カメラとSWIR光源の組み合わせで、高倍率観察が可能。 シリコンウェハーやICチップなどの半導体デバイスの内部の観察をはじめ、 ソーラーパネルやLCDなどの電気・電子部品の非破壊検査や、ウェハーや フリップボンダー用の位置決めにお使いいただけます。 【特長】 ■近赤外撮影用 ■近赤外波長コート@1100nmを中心に高い透過率を実現 ■赤外カメラとSWIR光源の組み合わせで、高倍率観察が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業:株式会社ケンコー光学
- 価格:応相談