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測定(顕微鏡) - メーカー・企業と製品の一覧

更新日： 集計期間:2025年10月08日～2025年11月04日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。

測定の製品一覧

16～28 件を表示 ／ 全 28 件

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【DL可/EBSD】EBSDによるはんだ断面の内部歪み測定

【DL可/EBSD】EBSDによるはんだ断面の内部歪み測定

「実装条件違いや経年劣化で起きる不具合は何か？」 はんだ内部に潜む問題を検証します

電子線後方散乱回折法EBSD（Electron Backscatter Diffraction Pattern）は走査電子顕微鏡SEMと組み合わせることで以下が可能です ・微小領域での結晶粒径、相構造に関する分析 ・実装部などの微小部における残留応力の評価（約50μｍでの解析事例あり） 本事例では 【EBSD】はんだ断面の内部歪み測定 を紹介しています。 EBSDで熱衝撃試験による”はんだ内部の歪みの変化”が確認できました。 この測定技術は、はんだの条件違いや経年劣化による不具合の発生時、事前の不具合予想に応用できます。 ぜひお試しください。 また、弊社ではEBSDとSEMに加え、TEMによる各種断面解析を行っております。 お気軽にご相談いただければ幸いです。 セイコーフューチャークリエーション 公式HP https://www.seiko-sfc.co.jp/ ※その他の資料も多数あります。問い合わせボタンからご用命いただければ送付いたします。

  • はんだ
  • 受託測定
  • その他金属材料

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受託・委託測定（粒度分布、粉塵爆発、細孔分布他）

受託・委託測定（粒度分布、粉塵爆発、細孔分布他）

粉体機器メーカーだからできる測定がある！！　粉の物性でお困りの際はご連絡ください。

セイシン企業の粉体測定センターでは受託測定業務を行っております。単発的に発生する測定や、品質管理として断続的に行なう測定などに、便利にご利用いただけます。必要なとき、必要なデータが敏速かつ正確にえられます。セイシン企業粉体測定センターでは皆さまのご要望にお応えできる測定技術とノウハウを兼ね備えています。粉体に関することなら日本で一番の知識と経験があると自負しておりますので是非一度ご相談下さい。お待ちしております。

  • 受託測定

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磁気環境測定　磁界測定　電磁波環境測定　出張測定

磁気環境測定　磁界測定　電磁波環境測定　出張測定

環境の確認。施工予定現場の磁場測定・計測受託サービスと、現場やお客様の実情にフィットした、効果的シールド施工方法をご提案します。

電磁波障害による機器の誤動作あるいは人体への健康被害を懸念される、会社や工場、あるいは病院等の建物の電磁波環境を測定します。 MRIやCTなどの設置場所のシールド効果、周辺電磁環境測定も承っております。 １）磁界測定 磁界の影響を受けやすい装置の設置など、事前に磁界環境を知っておく必要がある時は、ぜひ当社の環境測定をご利用ください。 ２）出張測定の例 ・電子顕微鏡の設置場所 ・半導体製造装置の設置場所 ・病院内設備、検査装置設置場所 ・送電線の近く ・変圧器の近く ・マンション、住宅建設地周辺において、近隣に送電線や変電所設備等がある場合 ３）環境磁場の分類 ・直流磁場 　永久磁石応用装置（スピーカ等）から漏洩している磁場，落雷・溶接機の直流大電流や強力な電磁石（リフティングマグネット等）によって磁化された鋼材等から発生する磁場，地磁気等 ・交流磁場 　送電線や変電配電設備からの商用周波数の磁場等 ・変動磁場 　電車や自動車の通過による一過性の磁場変化，電気機器・設備の稼働停止による磁場の乱れ等

  • 電気室磁気シールド.JPG
  • 施工前磁束密度.jpg
  • シート１層施工後.jpg
  • シート２層施工後.jpg
  • その他受託サービス
  • 受託測定

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光触媒『チタニスター』スポンジチタンのBET法による比表面積測定

光触媒『チタニスター』スポンジチタンのBET法による比表面積測定

スポンジチタンラージおよびスポンジチタンスモールの観察をご紹介

スポンジチタンスモールを処理品および無処理品に分類し、 走査型電子顕微鏡(SEM)により表面状態差について、それぞれ倍率を変えて観察しました。 【BET法】 ■スポンジチタンラージ ・BET 比表面積 5.4203m2/g micropore(細孔径40 オングストローム以下) ・BET 比表面積 4.1314m2/g macropore(細孔径40～360 オングストローム以上) ■スポンジチタンスモール ・BET 比表面積 3.3912m2/g micropore(細孔径40 オングストローム以下) ・BET 比表面積 2.5581m2/g macropore(細孔径40～360 オングストローム以上) 【スポンジチタン表面のSEMによる観察】 SEM観察写真はPDF資料をご覧ください。 ※その他の詳細は、PDFをダウンロードしてご覧ください。

  • 2.PNG
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  • その他高分子材料

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計測用X線CTシステム　XDimensus 300　＜＜受託測定

計測用X線CTシステム　XDimensus 300　＜＜受託測定

【動画公開】非破壊で樹脂・アルミダイカスト等製品の内部形状観察や内部寸法を計測可能。ご要望に応じ各種測定データをご提供します。

『XDimensus 300』は、非破壊で内部形状の可視化に加え、計測が可能な 計測用X線CTシステムです。 測定最大サイズは、φ300mm×H210mm。3次元測定機で測定が難しい内部形状 測定の際に有効で、内部構造、内部欠陥の観察・解析などの計測が行なえます。 また、関連リンクより動画をご覧いただけます。こんなモノ・コトでも 対応できるの？などご不明点が有りましたら、是非お問合せ下さい。 【特長】 ■非破壊で内部形状の可視化に加え、計測が可能 ■3次元測定機で測定が難しい内部形状測定の際に有効(例：アンダー形状) ■内部構造、内部欠陥の観察・解析などの計測が可能 　(例：ASSY品の不具合発生時の内部解析等) ■測定最大サイズ：φ300mm×H210mm ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 お問い合わせの際は下記、関連リンク(お問い合わせフォーム)からご連絡をお願いいたします。

  • X線検査装置

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【高精度測定】リバースエンジニアリングサービス・受託測定

【高精度測定】リバースエンジニアリングサービス・受託測定

精密な測定データをご提供致します。寸法測定・3Dデータ化・図面化・リバースエンジニアリングを当社一貫して対応しております。

部品が古く『図面が無い』『図面が古くデータが無い』といった お悩みはありませんか？？ 当社が設備する『計測用X線CT』と『レーザースキャン』システムを活用し、3Dデータ化・図面化を対応いたします。 また寸法測定では、お客様からお預かりした製品を当社にて測定⇒精密な 測定データをご提供致します。 『測定が難しい案件』『部品はあるけど、データが無い』といった際など、なんでもご相談下さい。 【解決事例】 ■寸法測定 ・成形品の測定 ＜三次元測定機使用＞ ・ASSY品(金属+樹脂)の測定＜X線CT使用＞ ・検査キャパのフォロー ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 お問い合わせの際は下記、関連リンク(お問い合わせフォーム)からご連絡をお願いいたします。

  • 受託測定

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各種測定承ります！　計測X線CTスキャン 内部測定/非破壊測定

各種測定承ります！　計測X線CTスキャン 内部測定/非破壊測定

＊計測用X線CTシステム設備…ASSY品などの内部構造や内部欠陥の観察・解析・リバースエンジニアリングなどにも対応しております。

ユーコーポレーションでは、樹脂・金属・難削材の高精度切削加工だけでなく、各種受託測定やリバースエンジニアリングにも対応しております。 お預かりした部品を当社測定設備にて測定する事で、3DCADデータや図面等をご提供！ もちろん、御希望が御座いましたら、加工まで当社で対応可能です。 また、当社では計測用X線CTシステムを設備しており、3次元測定器では測定が出来ない、アンダー形状などの計測が対応可能です！ 難しい測定など、何かお困りな事が御座いましたら、 是非お気軽にご相談下さい！！ ★特長 ■受託測定が可能⇒部品をお預かりします。 ■計測用X線CTシステムよる内部測定が可能 ■CADデータ作成、図面作成が可能 ■加工まで対応可能 ※リバースエンジニアリング ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 お問い合わせの際は下記、関連リンク(お問い合わせフォーム)からご連絡をお願いいたします。

  • その他加工機械

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アスベストモニアリングマニュアルに基づくアスベスト測定

アスベストモニアリングマニュアルに基づくアスベスト測定

アスベストモニタリングマニュアル(第4.0版)に基づくアスベスト測定なら当社におまかせください。

平成22年6月10日付、環境省よりアスベストモニタリングマニュアル(第4.0版)が発表されました。総繊維数が1f/Lを超えたサンプルについては、電子顕微鏡法によりアスベストの同定を行うことや解体現場等おいて迅速に測定ができる方法としていくつかの分析方法が紹介されました。当社ではこれらの分析に対応いたします。

  • 受託測定

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顕微分光膜厚計　複雑な形状のある任意ポイントの測定

顕微分光膜厚計　複雑な形状のある任意ポイントの測定

さまざまな用途のDLCコーティング厚みの測定

DLC(diamond‐like carbon)はアモルファス（非晶質）な炭素系材料です。高硬度・低摩擦係数・耐摩耗性・電気絶縁性・高バリア性・表面改質やDLCの厚み測定は断面を電子顕微鏡にて観察する破壊検査が一般的でしたが、大塚電子の光干渉式膜厚計であれば非破壊かつ高速に測定が可能です。 独自の顕微鏡光学系を採用することで、形状のあるサンプルの実測定が可能になりました。

  • さまざまな用途のDLCコーティング厚みの測定2.jpg
  • さまざまな用途のDLCコーティング厚みの測定1.jpg
  • さまざまな用途のDLCコーティング厚みの測定3.jpg
  • さまざまな用途のDLCコーティング厚みの測定4.jpg
  • 分析機器・装置

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1ライン３CH設置や、工程前後に測定が可能！多ポイント膜厚測定

1ライン３CH設置や、工程前後に測定が可能！多ポイント膜厚測定

多CHでの前後の測定が可能な、多ポイント膜厚測定。複数の受光ヘッドを使用し、複数ポイントの膜厚値を一括測定します。

『FF8』は、サンプルの反射率（干渉波形）を測定し、 膜厚演算方法の中のFFT（フ－リエ変換膜厚計）や、 カーブフィット膜厚計等によって 膜厚値の解析を行う非接触多ポイント膜厚測定が可能です。 膜厚測定の他にフィルム、硝子の厚さ、屈折率の測定も行うことができ、 オプションにより、多層膜・カーブフィット法・顕微鏡・マッピング測定・ 色測定・成分濃度解析も可能です。 オプションにて膜の厚みの差やムラ等の測定・解析を 効率的に行えるように、自動XYステージを使用して 自動マッピング測定が可能です。（マッピング膜測定） 【特長】 ■サンプルの反射率を測定し、FFT等によって膜厚値の解析を行う ■膜厚測定の他にフィルム、硝子の厚さ、屈折率の測定も行える ■測定データはファイル保存ができ、あとから再解析も可能 ■インライン膜厚測定としてもご使用頂ける ■カスタム仕様等の対応も可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 光学測定器

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検査測定業務　三次元測定　その他測定具使用

検査測定業務　三次元測定　その他測定具使用

♪ 検 査 測 定 業 務　プラスチック成形品、アルミ、プレス部品、その他の寸法測定を致します。　

その他納品形態は貴社ご指定フォーマットがあればそちらへ記入（手書き可）、ご指定が無い場合は当社の検査成績書へ記入致します。軸、面補正、記号、形状不良等の必要事項を記入した作業報告書も画像入りで納品致します。（簡単な物の場合や必要でない時には作成しない場合もございます。）その他工程能力等のデーターも算出致します。（別途料金）

  • その他計測・記録・測定器
  • その他受託サービス

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受託観察・分析サービス｜JTL

受託観察・分析サービス｜JTL

問題解決力で最適な観察・分析方法をご提案致します。

断面研磨、表面・断面観察、非破壊検査、元素分析、化学分析をサービスの中心として、解析目的に合った各種の観察・分析方法をご提案いたします。 ■解析目的に合った観察・分析方法をご提案 試料の材質・状態、解析の目的など各種の条件によって、観察・分析の方法にも選択肢が数多く存在します。その選択肢の中からより適切な方法をご提案いたします。 ■短納期・低価格のご対応 観察・分析のアウトソーシングサービスに求められるのは品質はもちろんのこと、スピードと価格も重要であると考えます。業界の標準的な納期・価格に対して、JTLでは更なる短納期化・低価格化を実現しました。

  • マイクロスコープ
  • 受託測定
  • 分析機器・装置

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X線残留応力測定機による受託サービス｜JTL

X線残留応力測定機による受託サービス｜JTL

残留応力測定機により試料表層の残留応力を非破壊で測定します。

X線残留応力測定機を用いて、多結晶体材料の表層部の応力測定を実施致します。 X線回折の原理を利用した応力測定は製品の材料開発・品質評価に至るまで、幅広く利用されています。 本設備での測定は、非破壊・微小部・高精度・短時間での残留応力測定が実施可能です。 Rigaku製 AutoMATE ●X線管球：Cr管球 ●2θ測定範囲：98～168° ●入斜コリメータ：φ150、300、500μｍ　φ1、2、4mm ●検出器：PSPC検出器 ●CCD付ズーム顕微鏡：×20～135 ●ステージ制御：マッピング・ティーチング機能付 ●自動XYZ軸可動範囲：XY100mm×Z40mm ●最大試料スペース：φ320×t215mm ●最大試料重量：20kg（マッピング・ティーチング時は10kg） ●解析ソフト：残留オーステナイト定量計算 　残留オーステナイトマッピング表示 　応力マッピング表示

  • 受託測定
  • 試験機器・装置
  • 応力解析

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