更新日： 集計期間:2025年07月09日～2025年08月05日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。
16～18 件を表示 ／ 全 18 件
表裏同時観察による高効率な検査を実現。レンズ、LEDチップ、通信部品などの微細部品の傷やズレを確実に捉える顕微鏡システム！
『TOMOS-50R1』は、撮影視野1倍での両面広視野撮影が可能な 広視野リング照明付きの両面顕微鏡システムです。 コンデンサ、抵抗などの電子部品、通信デバイス用樹脂部品、 レンズなどの個片全体を撮影し、表裏両面のキズ検査が可能です。 【特長】 ■顕微鏡表裏の光軸ずれや、レンズ倍率誤差、カメラのθずれを 高精度に画像処理補正 ■表と裏をひっくり返す手間無く寸法測定も可能 ■水晶振動子、MEMS、プリント基板の穴、電子部品の表裏を同時に撮影 ■表裏のパターンやアライメントマークのずれを繰り返し精度±0.010mm精度で測定可能（※） ※測定精度は、被写体条件、測定条件、対物レンズ倍率、測定環境等により変わります。 サンプルテストにてご確認下さい。 ＼ 詳細は「カタログをダウンロード」よりご確認下さい ／
撮影視野1倍での両面広視野撮影が可能！(視野9mm x 7mm）
『TOMOS-50R1』は、撮影視野1倍での両面広視野撮影が可能な 広視野リング照明付きの両面顕微鏡システムです。 水晶振動子、MEMS、プリント基板の穴など、電子部品の表裏を 同時に撮影が可能です。 また、表裏のパターンやアライメントマークのずれを繰り返し精度 ±0.010mm精度で測定できます。 【特長】 ■顕微鏡表裏の光軸ずれや、レンズ倍率誤差、カメラのθずれを 高精度に画像処理補正 ■表と裏をひっくり返す手間無く寸法測定も可能 ■水晶振動子、MEMS、プリント基板の穴、電子部品の表裏を同時に撮影 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
顕微鏡表裏の光軸ずれ､対物レンズ倍率のバラツキ､カメラのθずれを画像で補正！
当社で取り扱う、両面顕微鏡システム『TOMOSシリーズ』について ご紹介いたします。 4インチステージの「TOMOS-50」、6インチステージの「TOMOS-60」を はじめ、広視野リング照明付きの「TOMOS-50R1」などをラインアップ。 水晶振動子、MEMS、電子部品などの表裏を同時に撮影します。 表と裏をひっくり返す手間無く寸法測定も可能です。 【TOMOS-50/60 特長】 ■水晶振動子、MEMS、半導体ウエハ、電子部品の表裏を同時に撮影 ■表裏のパターンやアライメントマークのずれを繰り返し精度 ±0.3μm精度で測定可能 ■表裏顕微鏡の光軸ずれ、レンズ倍率誤差、カメラθずれを高精度に 画像処理補正 ■オートフォーカス機能、電動XYステージにも対応(オプション) ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
