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開発プロセス中の電子アセンブリ上の30MHz～3GHzの電界と磁界を測定可能！
『RF1近傍界プローブセット』は、4本のパッシブ磁界プローブと 専用ケーブル1本が含まれているセットです。 当セットのプローブヘッドは、電子アセンブリに非常に近づけた位置での 測定が可能。 ICピン、導電パス、コンポーネントやコネクタ上での検査を行うことができ、 干渉源を特定することができます。 【セット内容】 ■RF-K 7-4：H-Field Probe 30MHz～1GHz ■RF-U 2.5-2：H-Field Probe 30MHz～3GHz ■RF-R 3-2：H-Field Probe 30MHz～3GHz ■RF-E 10：E-Field Probe 30MHz～3GHz ■SMB-BNC：1mケーブル ■ケース ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
LF-B 3、LF-U 5、LF-U 2.5などの高分解能のプローブを使用して、干渉源をより正確に検出！
『LF1近傍界プローブセット』は、4本の磁界プローブと専用ケーブルが 含まれており、開発プロセス中の電子デバイスから放射される長波、中波、及び 短波周波数を測定することができるセットです。 当セットのプローブヘッドは、ICピンから大型コンポーネント、アセンブリ上の 電磁干渉源を段階的に検出できる様に設計。 50Ω入力のスペクトラムアナライザまたはオシロスコープに接続できます。 【セット内容】 ■LF-R 400：H-Field Probe 100kHz～50MHz ■LF-B 3：H-Field Probe 100kHz～50MHz ■LF-U 2.5：H-Field Probe 100kHz～50MHz ■LF-U 5：H-Field Probe 100kHz～50MHz ■SMB-BNC：ケーブル1m ■ケース ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
ミニバーストフィールドジェネレータは、常に手元に用意していただきたいEMCツールの1つ！
当社で取り扱う『P23セット(電界パルス)』について、ご紹介いたします。 P23の干渉パルスは、テスト対象のリセット、クロック、クォーツ、或いは それぞれの信号線等のデジタルIC入力を通り、結合。 結合はバーストフィールドジェネレータ内部で容量的に行われます。P23ミニバースト フィールドジェネレータの先端を、DUTのピンまたは信号線上にセットしてください。 P23の先端は非常に薄く、微細な構造の検査に適しています。 【セット内容】 ■P23：Mini Burst Field Generator(E) ■ケース ■ユーザーマニュアル ※詳しくはPDF(英語版)をダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
「E1セット」に含まれるSGZ21バーストジェネレータでのみ動作可能！
『S2セット』は、アクティブ及びパッシブ近傍界プローブが含まれている製品です。 これらは、干渉下にある電子デバイスやアセンブリ内の非反応性ファースト トランジェントパルス磁場を測定。 DUTに問題を引き起こすバースト及びESD干渉の影響を分析できます。 磁界プローブは、LWL接続を介して測定信号をSGZ21バーストジェネレータの 光受信機に送信します。 【セット内容(一部)】 ■MSA 02：Magnetic Field Probe (active) ■05K black：Probe Head (MSA 02用) ■05R white：Probe Head (MSA 02用) ■05U orange：Probe Head (MSA 02用) ■MS 101：Magnetic Field Probe ■MS 102U：Magnetic Field Probe ※詳しくはPDF(英語版)をダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
ICピン、導電パス、コンポーネントやコネクタ上での検査を行うことができ、干渉源を特定可能！
『SX1セット(磁界・電界プローブ)』は、3本のパッシブ磁界プローブと 専用ケーブル1本が含まれているセットです。 開発プロセス中の電子アセンブリ及びIC上の1GHz～10GHzの高クロック 周波数帯の電界及び磁界を測定することが可能。 Langer社の近傍界プローブはコンパクトで大変使い易く、 また電流減衰シースにより、電気的にしっかりとシールドされています。 【セット内容】 ■SX-E 03：E-Field Probe 1GHz～10GHz ■SX-B 3-1：H-Field Probe 1GHz～10GHz ■SX-R 3-1：H-Field Probe 1GHz～10GHz ■SMA-SMA：1mケーブル ■ケース ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
対応周波数帯は30MHz～1.5GHz/3GHz！PCBエミッション近傍界プローブタイプ
『RF4-Eプローブセット』は、比較目的で30MHz～3GHz(1.5GHz)の 周波数範囲で電界を測定するパッシブ電界プローブが2本含まれている セットです。 このプローブは、電界分布の分析、モジュール上の結合メカニズムの検出、 信号リードのスイッチングエッジと電源システムのRF電圧の評価を 目的として設計。 Langer社の近傍界プローブはコンパクトで大変使い易く、また電流減衰 シースにより、電気的にしっかりとシールドされています。 【セット内容】 ■RF-E 02：E-Field Probe 30MHz～1.5GHz ■RF-E 05：E-Field Probe 30MHz～3GHz ■SMB-BNC：1mケーブル ■ケース ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
磁界用プローブセット！対応規格はIEC/EN 61000-4-4となっております
当社で取り扱う、Schloeder GmbHシュレーダーの『SFT 470』 をご紹介します。 当製品のタイプは磁界用プローブセットで、 対応規格はIEC/EN 61000-4-4です。 その他、詳細はダウンロード資料をご参照ください。 【仕様】 ■タイプ：磁界用プローブセット ■対応規格：IEC/EN 61000-4-4 ※英語版カタログをダウンロードいただけます。 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせください。
50Ω入力のスペクトラムアナライザまたはオシロスコープに接続可能！
『XF1近傍界プローブセット』は、4本の磁界プローブと、1本の電界プローブ、 そして専用ケーブル1本が含まれているセットです。 開発プロセス中の電子アセンブリ上の30MHz～6GHzの電界と磁界を 測定することが可能。 またそのインピーダンスマッチングにより、RFタイプのプローブよりも低い 周波数帯における感度は低いです。 【セット内容(一部)】 ■XF-R 400-1：H-Field Probe 30MHz～6GHz ■XF-R 3-1：H-Field Probe 30MHz～6GHz ■XF-B 3-1：H-Field Probe 30MHz～6GHz ■XF-E 10：E-Field Probe 30MHz～6GHz ■XF-U 2.5-1：H-Field Probe 30MHz～6GHz ■SMA-SMA：1mケーブル ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
DC～9GHzまでの干渉源を高精度に測定、位置を特定することが可能！
当社で取り扱う『PBS1セット(磁界・電界プローブ)』について、 ご紹介いたします。 セットには、磁界(H field)と電界(E field)を測定するための4本の磁界プローブと 1本の電界プローブ、そしてそれぞれの標準校正データが含まれます。 プローブには、機械的損傷や環境の影響から保護するために高品質の絶縁層が 設けられており、安全に発振器や電力線の測定ができます。 【特長】 ■干渉源の特定 ■干渉電界強度の推定 ■遮蔽およびフィルタリング対策の検証 ■障害のあるコンポーネントの特定 ■干渉に過度に敏感な回路の検出 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
プローブは、どのスペクトラムアナライザやオシロスコープにも接続することが可能！
当社で取り扱う『PBS2セット(磁界・電界プローブ・プリアンプ)』について、 ご紹介いたします。 セットには、磁界(H field)と電界(E field)を測定するための4本の磁界プローブと 1本の電界プローブ、そしてそれぞれの標準校正データが含まれ、高性能プリアンプが付属。 EMC対策のためのモニタリングはもちろんの事、信号発生器と併用して イミュニティテスト用のフィールドを生成する事も可能です。 【特長】 ■干渉源の特定 ■干渉電界強度の推定 ■遮蔽およびフィルタリング対策の検証 ■障害のあるコンポーネントの特定 ■干渉に過度に敏感な回路の検出 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
アッテネータは20dB(max 16kV)/30dB(max 30kV)！ESD検証セット
当社で取り扱う、『SESD 8800-4,8800-4_S』をご紹介します。 タイプはESD検証セット(ESDパルス検証用 2Ω(4GHz))で、 対応規格はIEC/EN 61000-4-2,ISO 10605です。 アッテネータは20dB(max 16kV)/30dB(max 30kV)となっております。 詳細はダウンロード資料をご参照ください。 【仕様】 ■タイプ：ESD検証セット(ESDパルス検証用 2Ω(4GHz)) ■対応規格：IEC/EN 61000-4-2,ISO 10605 ■アッテネータ：20dB(max 16kV)/30dB(max 30kV) ※英語版カタログをダウンロードいただけます。 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせください。
対応周波数帯は～40GHz！PCBエミッション近傍界プローブタイプ
『HR-R 8-1セット(磁場プローブ)』には、HR-R 8-1 B 磁界プローブが 含まれている製品です。 このプローブは、最大40GHzの磁場測定を可能にします。 HR-R 8-1のプローブヘッドは、IC、回路基板構造及びコンポーネントの 測定を行い、高周波磁場の位置を特定できる様に設計されています。 【セット内容】 ■HR-R 8-1：Near-field probe～40GHz B-field ■CS-ESA：ViewerChipScan-ESA Viewer Software/USB ■HR-R char：HR-R 8-1 個別データ ■ユーザーマニュアル ■ケース ※詳しくはPDF(英語版)をダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
対応周波数帯は～40GHz！電界発生源の位置を特定することが可能
『HR-E 40-1セット』は、HR-E 40-1電界プローブが含まれている PCBエミッション近傍界プローブタイプの製品です。 このプローブは、最大40GHzの電界測定を可能にします。 HR-E 40-1のプローブヘッドは、個々の導体トラック上を直接測定できるので、 電界発生源の位置を特定することができます。 【セット内容】 ■HR-E 40-1：E-Field Probe～40GHz ■CS-ESA：Viewer ChipScan-ESA Viewer Software/USB ■HR-E char：HR-E 40-1 個別データ ■ユーザーマニュアル ■ケース ※詳しくはPDF(英語版)をダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
設定ミスや機器へのダメージもないので、そのコストパフォーマンスは計り知れません！
『SAC-10 Plus Triton Semi Anechoic Chamber 10m』は、 エミッション試験及びイミュニティ試験の規格に完全準拠しています。 測定距離10m、5m、3mの複数の試験軸とΦ3.0mのQuiet Zone（QZ）を 備えています。その多角形状と計算された電波吸収体レイアウトにより、 複数測定軸を暗室内にセットする事が可能。 つまり、エミッション及びイミュニティテスト用セットアップが 完了した状態を維持できるので、セッティング変更による機器調整が 不要となり、測定時間の大幅短縮が可能になります。 【特長】 ■EMI/EMSに完全準拠 ■多角形設計で省スペースかつコンパクト ■FrankoniaオリジナルのFrankosorb 電波吸収体による 優れたパフォーマンス ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
コンタクト放電では、非接触時に放電しないコンタクト制御機能付き！
当社で取り扱うEMC試験機器『SESD216』について、ご紹介いたします。 ESDシミュレータ(静電気試験機)は、IEC/EN61000-4 Part2規格で 定義されているシステムや機器におけるEMC試験に好適。 この試験は、静電気放電に対する耐性試験を行うもので、エア放電とコンタクト放電に 対応する2つのモードがあり、DUTに対し非接触試験を行うためのエア放電用テストプローブと 接触試験を行うためのコンタクト放電用テストプローブがセットされています。 【特長】 ■制御用ベースユニットを持たない、コンパクトハンディタイプ ■エア放電では、実際の放電電圧の表示機能あり ■プログラムによる自動テストが可能 ■大きく見やすい液晶パネル ■液晶パネルから試験内容の簡単選択・設定 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
