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半導体業界や液晶業界、精密電子部品業界などに！高解像度、高コントラスト設計です
『KCM-4DT』は、光学倍率が4倍で同軸落射照明の両側（物体側・像側） テレセントリックレンズです。 コンパクト設計で様々な装置に搭載が可能。 ディストーションも少なく、高解像度、高コントラスト設計です。 またW.D.は68mm。寸法計測をはじめ、アライメントマークの位置合わせや、 精密加工部品の外観検査などにご使用いただけます。 【特長】 ■ディストーションも少なく、高解像度、高コントラスト設計 ■同軸落射照明 ■両側テレセントリックレンズ ■ピントズレでの像倍率変化が少なく精密測定に好適 ■コンパクト設計で様々な装置に搭載が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
分解能が6μm！寸法計測や精密加工部品の外観検査などにご使用いただけます
『KCM-6DT』は、光学倍率が6倍で同軸落射照明の両側（物体側・像側） テレセントリックレンズです。 コンパクト設計で様々な装置に搭載が可能。 ディストーションも少なく、高解像度、高コントラスト設計です。 またW.D.は70mm。寸法計測をはじめ、アライメントマークの位置合わせや、 精密加工部品の外観検査などにご使用いただけます。 【特長】 ■ディストーションも少なく、高解像度、高コントラスト設計 ■同軸落射照明 ■両側テレセントリックレンズ ■ピントズレでの像倍率変化が少なく精密測定に好適 ■コンパクト設計で様々な装置に搭載が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
様々な装置に搭載が可能！ピントズレでの像倍率変化が少なく精密測定に適しています
『KCM-2T』は、光学倍率が2倍でストレートの両側（物体側・像側） テレセントリックレンズです。 長さ121.7mm、重量50gのコンパクト設計で様々な装置に搭載が可能。 ディストーションも少なく、高解像度、高コントラスト設計です。 またW.D.は65mm。寸法計測をはじめ、アライメントマークの位置合わせや、 精密加工部品の外観検査などにご使用いただけます。 【特長】 ■ディストーションも少なく、高解像度、高コントラスト設計 ■ストレート ■両側テレセントリックレンズ ■ピントズレでの像倍率変化が少なく精密測定に好適 ■コンパクト設計で様々な装置に搭載が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
寸法計測やアライメントマークの位置合わせなどに！様々な装置に搭載が可能
『KCM-4T』は、光学倍率が4倍でストレートの両側（物体側・像側） テレセントリックレンズです。 長さ127mm、重量50gのコンパクト設計で様々な装置に搭載が可能。 ディストーションも少なく、高解像度、高コントラスト設計です。 またW.D.は68mm。寸法計測をはじめ、アライメントマークの位置合わせや、 精密加工部品の外観検査などにご使用いただけます。 【特長】 ■ディストーションも少なく、高解像度、高コントラスト設計 ■ストレート ■両側テレセントリックレンズ ■ピントズレでの像倍率変化が少なく精密測定に好適 ■コンパクト設計で様々な装置に搭載が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
被写界深度が0.2mmで光学倍率は6倍！ピントズレでの像倍率変化が少なく精密測定に好適
『KCM-6T』は、光学倍率が6倍でストレートの両側（物体側・像側） テレセントリックレンズです。 長さ125.7mm、重量55gのコンパクト設計で様々な装置に搭載が可能。 ディストーションも少なく、高解像度、高コントラスト設計です。 またW.D.は70mm。寸法計測をはじめ、アライメントマークの位置合わせや、 精密加工部品の外観検査などにご使用いただけます。 【特長】 ■ディストーションも少なく、高解像度、高コントラスト設計 ■ストレート ■両側テレセントリックレンズ ■ピントズレでの像倍率変化が少なく精密測定に好適 ■コンパクト設計で様々な装置に搭載が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
最大イメージサイズ1インチ！可変絞りで被写界深度のコントロールも可能
テレセントリックレンズは、被写体とレンズの被写界深度（ピントが合う）範囲では像の大きさが変わらない、という性質を持っています。そのため、高精度な画像計測等に利用可能です。 ケンコー光学では、メガピクセルカメラ対応、同軸/ストレート、さまざまなタイプを取り揃えております。 【取扱い製品】 ■5メガピクセルカメラ対応高解像度マクロレンズ ■メガピクセルカメラ対応高解像度マクロレンズ ■1.1インチメガピクセルカメラ対応両側テレセントリックレンズ ※詳しくはお気軽にお問い合わせいただくか、カタログをダウンロードしてください。
高倍率観察が可能！半導体デバイスの内部の観察や電気・電子部品の非破壊検査などに使用できます
『テレセントリックレンズ』は、近赤外波長コート＠1100nmを中心に 高い透過率を実現しました。 赤外カメラとSWIR光源の組み合わせで、高倍率観察が可能。 シリコンウェハーやICチップなどの半導体デバイスの内部の観察をはじめ、 ソーラーパネルやLCDなどの電気・電子部品の非破壊検査や、ウェハーや フリップボンダー用の位置決めにお使いいただけます。 【特長】 ■近赤外撮影用 ■近赤外波長コート＠1100nmを中心に高い透過率を実現 ■赤外カメラとSWIR光源の組み合わせで、高倍率観察が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
近赤外波長コート@1100nmを中心に高い透過率を実現したテレセントリックレンズのご紹介です！
株式会社ケンコー光学が取り扱う、NIR テレセントリックレンズ 『KCM-1UMP-NIR』についてご紹介いたします。 近赤外波長コート@1100nmを中心に高い透過率を実現し、 近赤外撮影に好適。 R&D、エレクトロニクス、半導体、医薬、食品、化粧品など 多岐にわたる業界に使用いただけます。 【仕様】 ■光学倍率：1 ■W.D.：65mm ■被写界深度（mm）：0.63 ■分解能（μm）：9.1 ■N.A.：0.063 ■光ディストーション（%）：-0.10 ■有効Fナンバー：7.9 ■重量（g）：120 ■適合カメラ：1.1インチ ■カメラマウント：C ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ソーラーパネルやLCDなどの電気・電子部品の非破壊検査にお使いいただけます！
株式会社ケンコー光学が取り扱う、NIR テレセントリックレンズ 『KCM-4UMP-NIR』についてご紹介いたします。 光学倍率は4倍、被写界深度0.08mm、分解能5.3μmなどの 仕様となっております。 固体中の異物混入や欠陥品の検査に、ソーラーパネルやLCDなどの 電気・電子部品の非破壊検査にお使いいただけます。 【仕様】 ■光学倍率：4 ■W.D.：65mm ■被写界深度（mm）：0.08 ■分解能（μm）：5.3 ■N.A.：0.12 ■光ディストーション（%）：0.59 ■有効Fナンバー：16.7 ■重量（g）：118 ■適合カメラ：1.1インチ ■カメラマウント：C ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
適合カメラは、1.1インチ！近赤外波長コート@1100nmを中心に高い透過率を実現しました
株式会社ケンコー光学が取り扱う、NIR テレセントリックレンズ 『KCM-4DUMP-NIR』についてご紹介いたします。 W.D.65mm、光ディストーションは0.59%、適合カメラは、1.1インチと なっております。 近赤外波長コート@1100nmを中心に高い透過率を実現し、赤外カメラと SWIR光源の組み合わせで、高倍率観察が可能です。 【仕様】 ■光学倍率：4 ■W.D.：65mm ■被写界深度（mm）：0.08 ■分解能（μm）：5.3 ■N.A.：0.12 ■光ディストーション（%）：0.59 ■有効Fナンバー：16.7 ■重量（g）：144 ■適合カメラ：1.1インチ ■カメラマウント：C ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
赤外カメラとSWIR光源の組み合わせにより、高倍率観察が行える近赤外撮影用テレセントリックレンズ
株式会社ケンコー光学が取り扱う、NIR テレセントリックレンズ 『KCM-10D-64SWIR』についてご紹介いたします。 赤外カメラとSWIR光源の組み合わせにより、高倍率観察が行えます。 カメラマウントはCで、光学倍率は10倍。適合カメラは2/3インチと なっております。 【仕様】 ■光学倍率：10 ■W.D.：64mm ■被写界深度（mm）：0.021 ■分解能（μm）：2.8 ■N.A.：0.24 ■光ディストーション（%）：0.10 ■有効Fナンバー：20.9 ■重量（g）：512 ■適合カメラ：2/3インチ ■カメラマウント：C ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
可変絞りにより被写界深度をコントロール！ストレートなテレセントリックレンズのご紹介です
株式会社ケンコー光学が取り扱う、テレセントリックレンズ 『KCM-035UMP-150』についてご紹介いたします。 ストレートな物体側テレセントリックレンズとなっており、 高精密部品の外観検査や寸法測定に好適。 イメージサイズ1.1インチ（1画素3.45μ）の性能を周辺まで実現しました。 【仕様】 ■光学倍率：0.345 ■W.D.：150mm ■被写界深度（mm）：40.8 ■分解能（μm）：11.7 ■N.A.：0.0284 ■光ディストーション（%）：-0.04 ■有効Fナンバー：6.0 ■重量（g）：895 ■適合カメラ：1.1インチ ■カメラマウント：C ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
作業性を考慮！ディストーションフリーなテレセントリックレンズのご紹介です
株式会社ケンコー光学が取り扱う、テレセントリックレンズ 『KCM-035DUMP-150』についてご紹介いたします。 作業性を考慮したロングワーギングディスタンスで、 1.1ラージフォーマット対応しています。 光学倍率0.354倍、W.D.150mm、N.A.0.0284などの 仕様となっております。 【仕様】 ■光学倍率：0.354 ■W.D.：150mm ■被写界深度（mm）：40.8 ■分解能（μm）：11.7 ■N.A.：0.0284 ■光ディストーション（%）：-0.04 ■有効Fナンバー：6.0 ■重量（g）：904 ■適合カメラ：1.1インチ ■カメラマウント：C ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
超広視野！イメージサイズ1.1インチ（1画素3.45μ）の性能を周辺まで実現しました
株式会社ケンコー光学が取り扱う、テレセントリックレンズ 『KCM-04UMP-150』についてご紹介いたします。 1.1ラージフォーマット対応し、超広視野。また、作業性を考慮した ロングワーギングディスタンスとなっています。 ご用命の際は、お気軽にお問い合わせください。 【仕様】 ■光学倍率：0.4 ■W.D.：150mm ■被写界深度（mm）：3.0 ■分解能（μm）：10.1 ■N.A.：0.0333 ■光ディストーション（%）：-0.03 ■有効Fナンバー：6.0 ■重量（g）：915 ■適合カメラ：1.1インチ ■カメラマウント：C ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
高精密部品の外観検査や寸法測定に好適！同軸落射のテレセントリックレンズ
株式会社ケンコー光学が取り扱う、テレセントリックレンズ 『KCM-04DUMP-150』についてご紹介いたします。 イメージサイズ1.1インチ（1画素3.45μ）の性能を周辺まで実現し、 同軸落射で、ディストーションフリー。 高精密部品の外観検査や寸法測定に好適。R&D、エレクトロニクス、 半導体、工作機械など多岐にわたる業界にお使いいただけます。 【仕様】 ■光学倍率：0.4 ■W.D.：150mm ■被写界深度（mm）：3.0 ■分解能（μm）：10.1 ■N.A.：0.0333 ■光ディストーション（%）：-0.03 ■有効Fナンバー：6.0 ■重量（g）：924 ■適合カメラ：1.1インチ ■カメラマウント：C ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
