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1.1ラージフォーマット対応！超広視野テレセントリックレンズのご紹介です
株式会社ケンコー光学が取り扱う、テレセントリックレンズ 『KCM-1UMP-NIR』についてご紹介いたします。 イメージサイズ1.1インチ（1画素3.45μ）の性能を周辺まで実現。 また、ディストーションフリーで、可変絞りにより被写界深度を コントロールできます。 【仕様】 ■光学倍率：0.17 ■W.D.：147mm ■被写界深度（mm）：17.96 ■分解能（μm）：25.6 ■N.A.：0.0131 ■光ディストーション（%）：0.10 ■有効Fナンバー：6.5 ■重量（g）：1826 ■適合カメラ：1.1インチ ■カメラマウント：C ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
適合カメラは、1.1インチ！近赤外波長コート@1100nmを中心に高い透過率を実現しました
株式会社ケンコー光学が取り扱う、NIR テレセントリックレンズ 『KCM-4DUMP-NIR』についてご紹介いたします。 W.D.65mm、光ディストーションは0.59%、適合カメラは、1.1インチと なっております。 近赤外波長コート@1100nmを中心に高い透過率を実現し、赤外カメラと SWIR光源の組み合わせで、高倍率観察が可能です。 【仕様】 ■光学倍率：4 ■W.D.：65mm ■被写界深度（mm）：0.08 ■分解能（μm）：5.3 ■N.A.：0.12 ■光ディストーション（%）：0.59 ■有効Fナンバー：16.7 ■重量（g）：144 ■適合カメラ：1.1インチ ■カメラマウント：C ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
赤外カメラとSWIR光源の組み合わせにより、高倍率観察が行える近赤外撮影用テレセントリックレンズ
株式会社ケンコー光学が取り扱う、NIR テレセントリックレンズ 『KCM-10D-64SWIR』についてご紹介いたします。 赤外カメラとSWIR光源の組み合わせにより、高倍率観察が行えます。 カメラマウントはCで、光学倍率は10倍。適合カメラは2/3インチと なっております。 【仕様】 ■光学倍率：10 ■W.D.：64mm ■被写界深度（mm）：0.021 ■分解能（μm）：2.8 ■N.A.：0.24 ■光ディストーション（%）：0.10 ■有効Fナンバー：20.9 ■重量（g）：512 ■適合カメラ：2/3インチ ■カメラマウント：C ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
可変絞りにより被写界深度をコントロール！ストレートなテレセントリックレンズのご紹介です
株式会社ケンコー光学が取り扱う、テレセントリックレンズ 『KCM-035UMP-150』についてご紹介いたします。 ストレートな物体側テレセントリックレンズとなっており、 高精密部品の外観検査や寸法測定に好適。 イメージサイズ1.1インチ（1画素3.45μ）の性能を周辺まで実現しました。 【仕様】 ■光学倍率：0.345 ■W.D.：150mm ■被写界深度（mm）：40.8 ■分解能（μm）：11.7 ■N.A.：0.0284 ■光ディストーション（%）：-0.04 ■有効Fナンバー：6.0 ■重量（g）：895 ■適合カメラ：1.1インチ ■カメラマウント：C ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
高精密部品の外観検査や寸法測定に好適！同軸落射のテレセントリックレンズ
株式会社ケンコー光学が取り扱う、テレセントリックレンズ 『KCM-04DUMP-150』についてご紹介いたします。 イメージサイズ1.1インチ（1画素3.45μ）の性能を周辺まで実現し、 同軸落射で、ディストーションフリー。 高精密部品の外観検査や寸法測定に好適。R&D、エレクトロニクス、 半導体、工作機械など多岐にわたる業界にお使いいただけます。 【仕様】 ■光学倍率：0.4 ■W.D.：150mm ■被写界深度（mm）：3.0 ■分解能（μm）：10.1 ■N.A.：0.0333 ■光ディストーション（%）：-0.03 ■有効Fナンバー：6.0 ■重量（g）：924 ■適合カメラ：1.1インチ ■カメラマウント：C ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
作業性を考慮したロングワーキングディスタンス！超広視野テレセントリックレンズ
精密光学部品・画像処理用レンズ・照明を取り扱う株式会社ケンコー化学では、 『1.1インチ用WD150mm 超広視野テレセントリックレンズ』を 取り扱っています。 1.1″ラージフォーマット対応。 作業性を考慮したロングワーキングディスタンスW.D.150mmです。 光学倍率は0.17～0.4をご用意しております。 【仕様(抜粋)】 ■型式：KCM-017UMP-150 ■光学倍率：0.17 ■W.D.(mm)：147 ■被写界深度(mm)：17.96 ■分解能(μm)：25.6 ■N.A.：0.0131 ■光学ディストーション(％)：0.01 ■有効Ｆナンバー：6.5 ■重量(g)：1826 ■適合カメラ：1.1インチ ■カメラマウント：C ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
光学倍率は2倍！近赤外撮影に好適な同軸落射のテレセントリックレンズのご紹介です
株式会社ケンコー光学が取り扱う、NIR テレセントリックレンズ 『KCM-2DUMP-NIR』についてご紹介いたします。 近赤外撮影に好適で、シリコンウェハーやICチップなどの半導体デバイスの 内部を観察する際などにお使いいただけます。 ご用命の際は、お気軽にお問い合わせください。 【仕様】 ■光学倍率：2 ■W.D.：65mm ■被写界深度（mm）：0.2 ■分解能（μm）：5.7 ■N.A.：0.1 ■光ディストーション（%）：0.98 ■有効Fナンバー：10 ■重量（g）：127 ■適合カメラ：1.1インチ ■カメラマウント：C ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
被写界深度9.06mm！R&D、エレクトロニクス、半導体、工作機械など多岐にわたる業界にお使いいただけます
株式会社ケンコー光学が取り扱う、テレセントリックレンズ 『KCM-023UMP-150』についてご紹介いたします。 光学倍率0.23倍、W.D.が156mm、被写界深度9.06mmなどの仕様と なっております。 R&D、エレクトロニクス、半導体、工作機械など多岐にわたる業界に お使いいただけます。 【仕様】 ■光学倍率：0.23 ■W.D.：156mm ■被写界深度（mm）：9.06 ■分解能（μm）：17.5 ■N.A.：0.0192 ■光ディストーション（%）：0.03 ■有効Fナンバー：6.0 ■重量（g）：1309 ■適合カメラ：1.1インチ ■カメラマウント：C ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
高倍率観察が可能！半導体デバイスの内部の観察や電気・電子部品の非破壊検査などに使用できます
『テレセントリックレンズ』は、近赤外波長コート＠1100nmを中心に 高い透過率を実現しました。 赤外カメラとSWIR光源の組み合わせで、高倍率観察が可能。 シリコンウェハーやICチップなどの半導体デバイスの内部の観察をはじめ、 ソーラーパネルやLCDなどの電気・電子部品の非破壊検査や、ウェハーや フリップボンダー用の位置決めにお使いいただけます。 【特長】 ■近赤外撮影用 ■近赤外波長コート＠1100nmを中心に高い透過率を実現 ■赤外カメラとSWIR光源の組み合わせで、高倍率観察が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
