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導入メリットを最大化！微分干渉の原理と微分干渉観察の仕組みについて解説します
当コラムでは、デジタルマイクロスコープで無色透明な対象物を観察する際に 重要なテクニックとなる「微分干渉」について詳しく解説しています。 微分干渉観察の方法を理解して、デジタルマイクロスコープの導入メリットを 最大化するためにご活用ください。 詳しくは、関連リンクをご覧ください。 【掲載内容（一部）】 ■微分干渉とは？ ・観察対象の厚さに応じて光のコントラストをつける ■微分干渉観察と撮影画像の特長 ・対象物の厚みによってコントラストがつく ・影の付き方に方向性が生まれる ・対象物にハロー（光環）が生じない ※コラムの詳細内容は、関連リンクより閲覧いただけます。 詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。
白飛び部分も明かりを抑えて撮影することが可能！HDR機能について分かりやすく解説
デジタルマイクロスコープの性能に関して、「HDR(ハイダイナミックレンジ)」 という要素を考えることも大切です。 当コラムでは、デジタルマイクロスコープのHDR機能について分かりやすく まとめていますので参考にしてください。 詳しくは、関連リンクをご覧ください。 【掲載内容(一部)】 ■HDR(ハイダイナミックレンジ)とは？ ・ダイナミックレンジとは？ ・HDR(ハイダイナミックレンジ)とは？ ・HDRの仕組み ※コラムの詳細内容は、関連リンクより閲覧いただけます。 詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。
まずは自社のニーズや条件をきちんと確認！デジタルマイクロスコープを選ぶポイントを解説
当コラムでは、特に検査用デジタルマイクロスコープの選び方について 解説しています。 目的別にデジタルマイクロスコープを選ぶ際のポイントをまとめていますので、 導入前に製品を比較検討するための参考としてご活用ください。 詳しくは、関連リンクをご覧ください。 【掲載内容（一部）】 ■検査用デジタルマイクロスコープを選ぶポイント ・倍率（視野範囲） ・作動距離 ・表示速度 ・拡大観察時、取付・加工など作業が必要か ※コラムの詳細内容は、関連リンクより閲覧いただけます。 詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。
ウエハーの外観・内面検査に好適なFA用マイクロスコープユニット
半導体業界における検査工程では、ウエハーの微細な欠陥や異物の検出が、製品の品質と歩留まりを左右する重要な課題です。特に、製造プロセスの高度化に伴い、より高い精度での検査が求められています。CMXシリーズは、可視光から短波赤外域まで幅広い波長に対応し、ウエハーの外観・内面検査において、高精度な画像取得を可能にします。 【活用シーン】 ・ウエハーの外観検査 ・ウエハー内面の異物検査 ・半導体デバイスの品質管理 【導入の効果】 ・高精度な検査による品質向上 ・歩留まりの改善 ・検査時間の短縮
