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今までリアルタイムで測定できなかった半導体の加速度試験が測定できます。
半導体デバイスの品質管理において、動作状況での加速度を印加し半導体デバイスの特性を測定する方法として、衝撃試験機の単独試験や振動試験機を用いた方法で行われてきました。しかし、これらの方法では印加加速度に限界があり、しかも連続的な高加速度を印加することができませんでした。 動的遠心加速度試験装置 Ｍｏｄｅｌ DAT-1は、これまでの培ってきた遠心式加速度試験装置の技術を応用し、高加速度の遠心力により印加し、半導体デバイスの特性を内部に組み込まれている無線により外部と通信し、動的特性を測定するシステムを開発しました。 詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをダウンロードしてください。
高加速度試験（最大34,000rpm、100,000G）。槽内温度コントロールが可能。JIS、MIL、IEC等の規格試験に対応。
「遠心定加速度試験装置」は、半導体部品の構造上・機械的欠陥の検出をします。 【特徴】 ローター室保護のために鋼鉄製の二重リング銅やスライドドアを採用 回転体のアンバランス検地に非接触の渦流センサーを採用 モーターの回転数が設定値より20%を超えると停止する過回転保護機構を採用 本体の異常振動検知に振動スイッチを採用 真空度のチェックに真空監視機構を採用 その他詳細は、カタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。
回転速度、回転時間などを設定するだけで、簡単に操作できる遠心加速度試験機
『CTシリーズ』は、加速度センサや加速度センサを組み込んだ製品の性能試験や 比較試験に適した遠心加速度試験機です。 PCから、添付のWindows操作プログラムを使って、遠心加速度、回転速度、 回転時間などを設定するだけで、簡単に操作できます。 供試体の質量と与える加速度をご連絡いただければ、お客様の試験に合わせた 遠心加速度試験機をご提案いたします。 【特長】 ■加速度試験に好適 ■簡単操作 ■通信プロトコルの公開 ■カスタムメイド ■スリップリングの組み込み(オプション) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
