Last Updated： Aggregation Period:2025年10月08日～2025年11月04日
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50Ω入力のスペクトラムアナライザまたはオシロスコープに接続可能！
『RF-E 03』電界プローブはパッシブ近傍界プローブで、Langer社製 スキャナー用として設計されている製品です。 プローブヘッドの下部電極面は約4x4mmで、導電パス、プリント回路基板の 単一コンポーネント等の小さい電界発生源を特定することが可能。 プローブヘッドの下部面を測定対象物に直接配置し、放出される電界を 検出します。 【仕様】 ■タイプ：近傍界プローブ ■サイズ：4x4mmプローブヘッド ■対応周波数帯：30MHz～3GHz ■コネクタ：SMB male,Jack ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
「RF-E 03」及び「RF-E 04」プローブと同じ基本構造！
『RF-E 09』電界プローブはパッシブ近傍界プローブで、Langer社製 スキャナー用として設計された製品です。 プローブヘッドの電極は、ICの表面上で分離された電界を検出。 アセンブリ上0.5～10mmの距離内でよく機能します。 小さな正方形の電極面を回路基板上のコンポーネントやプリント基板上に配置、 保持する事により、電気干渉の発生源を検出できます。 【仕様】 ■タイプ：近傍界プローブ ■サイズ：10x10mmプローブヘッド ■対応周波数帯：30MHz～3GHz ■コネクタ：SMB male,Jack ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
対応周波数帯は～40GHz！PCBエミッション近傍界プローブタイプ
『HR-R 8-1セット(磁場プローブ)』には、HR-R 8-1 B 磁界プローブが 含まれている製品です。 このプローブは、最大40GHzの磁場測定を可能にします。 HR-R 8-1のプローブヘッドは、IC、回路基板構造及びコンポーネントの 測定を行い、高周波磁場の位置を特定できる様に設計されています。 【セット内容】 ■HR-R 8-1：Near-field probe～40GHz B-field ■CS-ESA：ViewerChipScan-ESA Viewer Software/USB ■HR-R char：HR-R 8-1 個別データ ■ユーザーマニュアル ■ケース ※詳しくはPDF(英語版)をダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
コンパクトで大変使い易いLanger社の近傍界プローブ！
『RF-U 5-2 』磁界プローブはパッシブ近傍界プローブで、広範囲の導電パス、 ケーブル、コネクタ、電子部品等の磁場を検出できる様に設計された製品です。 プローブはカップリングクランプのように機能。プローブヘッドを コンポーネント上に直接配置すると、プローブに対し、真っ直ぐ、 又は横から入る他のソースからの磁力線も検出。 50Ω入力のスペクトラムアナライザまたはオシロスコープに接続できます。 【仕様】 ■タイプ：近傍界プローブ ■サイズ：6x6mmプローブヘッド ■対応周波数帯：30MHz～3GHz ■コネクタ：SMB male,Jack ■分解能：5mm ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
「RF-E 02」及び「RF-E 10」プローブと同じ基本構造ですが、非常に狭い範囲の電界を検出！
『RF-E 05』電界プローブはパッシブ近傍界プローブで、Langer社製 スキャナー用として設計された製品です。 プローブヘッドの電極幅は約0.5mmで、クロックされたラインやICピン、及び 小型コンポーネントの電界を正確に特定。 回路基板上のコンポーネントやプリント基板上に配置、保持する事により、 RF電気干渉の発生源を検出できます。 【仕様】 ■タイプ：近傍界プローブ ■サイズ：1x8mmプローブヘッド ■対応周波数帯：30MHz～3GHz ■コネクタ：SMB male,Jack ■分解能：0.6mm ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
大き目のヘッドにより、より大きいコンポーネントを干渉源の可能性として検出できるようになります！
『LF-R 50 磁界プローブ』は、ヘッドサイズが直径10mmのパッシブ近傍界 プローブで、最大3cm離れたアセンブリ、デバイス、またはケーブルを 測定する様に設計されています。 当製品は、その直径、感度、分解能において「LF-R 400」と 「LF-R 3」プローブの中間の性能です。 Langer社の近傍界プローブはコンパクトで大変使い易く、また電流減衰 シースにより、電気的にしっかりとシールドされています。 【仕様】 ■タイプ：近傍界プローブ ■サイズ：Φ10mm プローブヘッド ■対応周波数帯：100kHz～50MHz ■コネクタ：SMB male,Jack ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
自動車および軍事規格のテストに使用可能！ダブル測定軸ソリューション
『SAC-10/P Pyramid Semi Anechoic Chamber 10m』は、 測定距離10.0m、最大Φ6.0mのクワイエットゾーン(QZ)を確保し、 独自のロングピラミッド型吸収体レイアウトを備えています。 適応性が高いので、お客様のご要望を反映した高度なカスタマイズが可能。 エミッション試験及びイミュニティ試験の規格に完全準拠。 個別の規格対応については、要件を満たす適切な電波暗室ソリューションを ご提案いたしますので、ご相談ください。 【特長】 ■様々な種類のEMCテストに対応する高度にカスタマイズ可能なソリューション ■EMI/EMSに完全準拠 ■FrankoniaオリジナルのFrankosorb 電波吸収体による優れたパフォーマンス ■最適化した吸収体ライニングを備えたチャンバー設計 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
最適化した吸収体ライニングを備えたチャンバー設計！
『MIL-STD Military Testing Chamber』は、EMI/EMSに完全準拠した ミリタリー規格品・軍用品評価用EMC電波暗室です。 測定距離1.0mを確保した大型チャンバー ソリューションで、大型EUT または車両の放射性エミッションおよびイミュニティ試験が可能。 また、FrankoniaオリジナルのFrankosorb 電波吸収体による優れた パフォーマンスを持つ製品です。 【特長】 ■軍事試験用の高性能ソリューション ■EMI/EMSに完全準拠 ■FrankoniaオリジナルのFrankosorb 電波吸収体による 優れたパフォーマンス ■ターンキーソリューション ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
自動車部品試験用のコンパクトなチャンバーソリューション！
『ACTC Automotive Component Testing Chamber』は、 測定距離が1.0mの車載部品試験用電波暗室です。 テストテーブルのアースコンタクト用として、壁にプラグイン コンタクトストリップが電波吸収体の間に取り付けられているので、 簡単にテストテーブルのアースコンタクトの付け外しが可能。 また、CISPR 25(EMI)及びISO 11452(EMS)に完全準拠しています。 【特長】 ■E-Drive用にアップグレード可能 ■FrankoniaオリジナルのFrankosorb 電波吸収体による優れた パフォーマンス ■最適化した吸収体ライニングを備えたチャンバー設計 ■GTEM セルの代替ソリューション ■ターンキーソリューション ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
50Ω入力のスペクトラムアナライザまたはオシロスコープに接続可能！
『XF-U 2.5-1』磁界プローブはパッシブ近傍界プローブで、導電パス、 SMDコンポーネント、ICピン内のRF電流を選択的に検出する様に 設計された製品です。 プローブヘッドには、幅約0.5mmの磁気的にアクティブなギャップがあり、 測定時には、プローブヘッドのギャップを測定対象物上に配置。 Langer社の近傍界プローブはコンパクトで大変使い易く、 また電流減衰シースにより、電気的にしっかりとシールドされています。 【仕様】 ■タイプ：近傍界プローブ ■サイズ：Φ4mmプローブヘッド ■対応周波数帯：30MHz～6GHz ■コネクタ：SMA female,Jack ■分解能：0.5mm ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
様々な種類のEMCテストに対応する高度にカスタマイズ可能なソリューション！
『SAC-10/H Hybrid Semi Anechoic Chamber 10m』は、10.0mの測定距離と 最大Φ6.0mのクワイエットゾーン(QZ)確保した電波暗室です。 適応性が高いので、お客様のご要望を反映した高度なカスタマイズが可能。 エミッション試験及びイミュニティ試験の規格に完全準拠。 個別の規格対応については、要件を満たす適切な電波暗室ソリューションを ご提案いたしますので、ご相談下さい。 【特長】 ■様々な種類のEMCテストに対応する高度にカスタマイズ可能なソリューション ■EMI/EMSに完全準拠 ■FrankoniaオリジナルのFrankosorb 電波吸収体による優れたパフォーマンス ■最適化した吸収体ライニングを備えたチャンバー設計 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
対応周波数帯は30MHz～1.5GHz/3GHz！PCBエミッション近傍界プローブタイプ
『RF4-Eプローブセット』は、比較目的で30MHz～3GHz(1.5GHz)の 周波数範囲で電界を測定するパッシブ電界プローブが2本含まれている セットです。 このプローブは、電界分布の分析、モジュール上の結合メカニズムの検出、 信号リードのスイッチングエッジと電源システムのRF電圧の評価を 目的として設計。 Langer社の近傍界プローブはコンパクトで大変使い易く、また電流減衰 シースにより、電気的にしっかりとシールドされています。 【セット内容】 ■RF-E 02：E-Field Probe 30MHz～1.5GHz ■RF-E 05：E-Field Probe 30MHz～3GHz ■SMB-BNC：1mケーブル ■ケース ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
プローブヘッドの下部電極面は約5x5mm！クロックされたラインやICの表面上で分離された電界を検出
『RF-E 04』電界プローブはパッシブ近傍界プローブで、Langer社製 スキャナー用として設計された製品です。 「RF-E 03」及び「RF-E 09」プローブと同じ基本構造。 アセンブリ上0.5～10mmの距離内でよく機能します。 小さな正方形の電極面をコンポーネントやプリント基板上に配置、 保持する事により、電気干渉の発生源を検出できます。 【仕様】 ■タイプ：近傍界プローブ ■サイズ：5x5mmプローブヘッド ■対応周波数帯：30MHz～3GHz ■コネクタ：SMB male,Jack ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
グランドプレーンを有した5面電波暗室として、床面に電波吸収体を設置した6面電波暗室！
『CHC Compact Hybrid Chamber』は、測定距離3.0mの小型電波暗室です。 商業製品の放射Immunity(EMS)試験規格IEC/EN61000-4-3に準じた評価が 可能なので、主に研究開発時の評価対策用途として人気があります。 また、放射Emission(EMI)試験については、高さに制限はあるものの、 CISPR 16-1-4規格に基づいた事前評価もできます。 【特長】 ■CISPR16-1-4のEMI事前測定 ■IEC/EN 61000-4-3に完全準拠したEMS測定 ■GHz範囲のEMI測定と組み合わせた、EMS測定のための コスト効率の高いソリューション ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
車載部品評価用のEMC電波暗室をご紹介いたします！
『SAC-3 Plus Semi Anechoic Chamber 3.0m』は、3.0mの測定距離と、 クワイエットゾーン(QZ)Φ2.0mを確保したEMC評価用の汎用性の高い 電波暗室です。 エミッション試験及びイミュニティ試験の規格に完全準拠。 革新的なドーム型天井と、反射を最小限に抑える様に計算された 電波吸収体の配置により、優れた性能(NSA,SVSWR,FU)を発揮。 また、E-Drive評価用にアップグレードも可能です。 【特長】 ■3.0mの測定距離とø1.2mから最大2.0mまでのQZに対応する、 コスト効率の高い高性能ソリューション ■EMI/EMSに完全準拠 ■革新的なドーム型天井 ■軽量スチール構造と最適化されたRFシールドを採用 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
