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CoaXPress I/Fを採用！400nm～1700nmの検出波長帯で高精度な検査が可能 【検査の様子がわかる資料進呈中】
当製品は、SWIR画像を取得できるCoaXPressカメラです。 400nm～1700nmの検出波長帯で高精度な検査が可能。CoaXPress I/Fを採用し、 1つのセンサで可視＋SWIR画像を取得できます。 電子基板検査、食品検査、農産物検査、薬粧・錠剤検査、識別分類、 工程品質管理などの様々なアプリケーションへの活用が期待されます。 【特長】 ■1つのセンサで可視＋SWIR画像を取得可能 ■CoaXPress I/Fを採用 ■400nm～1700nmの検出波長帯で高精度な検査が可能 ■高画質、低ノイズな「SenSWIR IMX990」搭載 ■65x65x65mmの小型筐体、低価格化を実現 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
CoaXPress I/F400～1700nmの波長帯を検出し、可視＋SWIR画像を取得可能！
400nm～1700nmの検出波長帯により、見えなかったワークの検査が可能なCoaXPressカメラが新登場！ カメラ1台で可視＋SWIR画像を取得できます。 【SWIR帯域下での検査のメリット】 ■可視光下では同色に見える被写体が、SWIR帯域下では水分浸透率により異なる色に映り、素材や内容物の違いが判別可能。 ■液体の種類により光を吸収したり透過するので、内容物の有無や量、異物の混在が判別可能。 ■葉脈や果物の打痕が強調して見えるようになり、鮮度確認や品質検査に有効。 これらの特長を活かし、ウェハ検査、電子基板検査、食品検査、農産物検査、薬粧・錠剤検査、識別分類、工程品質管理などの様々なアプリケーションへの活用が期待されます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、弊社営業部までお問い合わせ下さい。
高画素(5M・12M・21M)SWIR帯域の撮影や各種検査用途に応用可能な画素ずらしSWIRカメラが新登場！
最大21Mの高解像度とSWIR波長にて検査を行うことで、通常検知できない欠陥を捉え、生産の効率化に貢献します。 【SWIRカメラ活用例】 ■ウエハ検査で、可視光下では見えないキズを発見。 ■基板のスルーホールを目立たせて見ることができ、穴の位置や大きさの検査を平易化。 ■可視光下では同色に見える被写体が、SWIR帯域下では水分浸透率の違いにより異なる色に映り、素材や内容物の違いを判別。 ■液体の種類により光を吸収/透過するので、内容物の有無や量、異物の混在を判別。 ■ボトルのラベルや、プラスチックの菓子袋を透過して内容物を確認。 ■葉脈や果物の打痕が強調して見えるようになり、鮮度確認や品質検査に有効。 これまではSXGA解像度の”VCC-SXCXP1SW”をご用意していましたが、この度、最大21Mの高解像度な画素ずらし版SWIRカメラ“VCC-SXCXP1SWPS”が新登場しました。 弊社独自開発の圧電素子を組み込んだアクチュエータをカメラに搭載し、より高精細な撮像が可能です。
