LED光源のメーカーや取扱い企業、製品情報、参考価格、ランキングをまとめています。
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LED光源(ソフト) - メーカー・企業と製品の一覧

更新日: 集計期間:2025年08月20日~2025年09月16日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。

LED光源の製品一覧

16~30 件を表示 / 全 39 件

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微粒子可視化システム『パラレルアイD』

【Webデモ実施中】独自の可視化システムにより、粒子・気流の高感度な可視化を実現!

微粒子可視化専用の超高感度カメラ・LED光源・画像処理ソフトの組み合わせで 目に見えない微粒子を映像としてリアルタイムに可視化し録画する「微粒子可視化システム」のLED光源モデル『パラレルアイD』です。 『パラレルアイD』の特徴 ■ 微粒子可視化 一般的に微粒子の可視化には不向きとされるLEDですが、精密な光学設計によって微粒子可視化に最適なLED光源を実現しました。 ■ 表面異物の観察 フィルム、パネル等の表面に付着している異物を可視化することができます。また、異物が発する蛍光色の違いによって、物質の種類を識別することも可能です。 ■ 気流の観察 光に厚みがあるため、3次元的な気流の挙動、トレーサを用いた気流観察に最適です。 ■ 明るい環境下の可視化 オプションフィルタを用いると、明るい環境下の可視化撮影でもほとんど感度の低下なく粒子を可視化することができます。 【詳しくはカタログをダウンロード、またはお気軽にお問い合わせください】

  • その他環境分析機器
  • 分析機器・装置
  • 受託測定

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微粒子可視化システム『パラレルアイH』【環境調査・性能評価】

【Webデモ実施中】独自の可視化システムにより、粒子・気流の高感度な可視化を実現!

微粒子可視化専用の超高感度カメラ・レーザ光源・画像処理ソフトの組み合わせで 目に見えない微粒子を映像としてリアルタイムに可視化し録画する「微粒子可視化システム」の高精度モデル『Type-H』です。   『パラレルアイH』の特徴 ■ 直進性 1本のレーザを的確な波形で制御することで、レーザ光の持つ「直進性」を最大限に生かして、遠くの眼には見えない微粒子に光を届けます。 ■ レーザシートの制御 コントローラのダイヤル操作で、場面ごとに最適な、光の出力、広がりや照射角度などの精密な遠隔制御ができます。 ■ 操作性 独自の光源システム構築により、設置のためのスペースを軽減し、特に製造現場での設置と取り回しが容易になりました。 【詳しくはカタログをダウンロード、またはお気軽にお問い合わせください】

  • その他環境分析機器
  • 分析機器・装置
  • 空調

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ナノ秒パルスLED光源『LDB-200-820LED』

複数の光源を完全に制御できるソフトウェアが無料で添付!納入したその日から稼動

『LDB-200-820LED』は、世界最速クラス(当社調べ)の帯域250MHzの LEDを使用したナノ秒パルスLED光源です。 光センサー、光素子の研究、開発部門、生産ラインなどでの実験、 検査用の光源として好適。例えばTOF(タイム・オブ・フライト)方式の 距離測定センサーのテスト用などの用途が考えられます。 複数の光源を完全に制御できるソフトウェアが無料で添付されますので、 納入したその日から稼動できます。 【特長】 ■世界最速クラスの帯域250MHzのLEDを使用(当社調べ) ■波形のきれいな光源 ■購入したその日からPC制御 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他光学部品
  • その他

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UV露光装置 LUV-1000

平行度を保証した高強度露光装置

超高圧水銀ランプ2kWを使用した露光装置です。 専用PCソフトウェアから制御可能で、マスクの平面出しやガラスとのギャップ調整も可能です。

  • その他加工機械

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電動型広帯域フレキシブル波長セレクター FWS-Poly-RED

独自技術のTwinFilmにより中心波長とバンド幅を制御可能な波長セレクターです。ソフトウェアで簡単制御可能な電動型モデルです。

FWS-Poly-REDシリーズは、独自技術のTwinFilmを利用した、ソフトウェア制御可能な電動可変フィルターです。 USB経由で中心波長とバンド幅を簡単に制御でき、スキャニングも可能です。広い動作波長範囲を備え、バンド幅は3 ~ 15 nmの範囲で調整可能です。 各種ブロードバンド光源、スーパーコンティニューム光源と互換性があり、波長可変光源としてお使い頂けます。 【特長】 ・電動モデル ・広い動作波長範囲 ・素早い波長チューニング ・波長スキャニング可能 ・優れた透過率 > 75 % ・高い帯域外消光比 (10^6) ・バンド幅調整可能 3 ~ 15 nm ・大きな開口部(最大Φ10 mm)の95 %にわたる均一性 ・オフセット補正光学系により、波長が変化してもウォークオフなし ・簡単取り付け

  • その他フィルタ
  • その他理化学機器
  • その他光学部品

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電動型フレキシブル波長セレクター FWS-Mono

独自技術のTwinFilmにより中心波長とバンド幅を制御可能な波長セレクターです。ソフトウェアで簡単制御可能な電動型モデルです。

FWS-Monoシリーズは、独自技術のTwinFilmを利用した、ソフトウェア制御可能な電動可変フィルターです。 USB経由で中心波長とバンド幅を簡単に制御でき、スキャニングも可能です。波長選択範囲は比較的狭くなりますが、波長モデルを豊富に揃えています。 各種ブロードバンド光源、スーパーコンティニューム光源と互換性があり、波長可変光源としてお使い頂けます。 【特長】 ・電動モデル ・豊富な波長ラインナップ ・素早い波長チューニング ・波長スキャニング可能 ・優れた透過率 > 75 % ・高い帯域外消光比 (10^6) ・バンド幅調整可能 3 ~ 15 nm ・大きな開口部(最大Φ10 mm)の95 %にわたる均一性 ・オフセット補正光学系により、波長が変化してもウォークオフなし ・簡単取り付け

  • その他フィルタ
  • その他理化学機器
  • その他光学部品

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光テスター(光配線導波路高速導通検査装置)

光配線基板用多チャンネルポリマー光導波路の量産検査用光導通検査装置

『光テスター(光配線導波路高速導通検査装置)』は、光配線基板用の 多チャンネルポリマー光導波路各チャンネルの導通を高速・高精度で検査する装置です。 測定光一括照射方式と高速導通検査ソフトウエアにより、複数チャンネルの 光導波路の光導通を一度にかつ迅速に測定することが可能です。 これにより、従来のファイバ調芯による損失測定方式では実現できなかった 光配線導波路量産段階における高速光導通テストが可能となりました。 【特長】 ■測定光一括励振方式による無調芯・高速測定 ■測定光一括励振光源ユニット・高N.A.検出光学系・高速画像処理アルゴリズムにより、  量産検査にも対応可能な高速・高精度・高再現性高速導通・相対損失測定  ・専用ソフトウエアにより光導波路の導波伝搬信号のみを抽出・処理・判定 ■電動ステージとの組み合わせによるデフォーカス測定モード・測定の自動化にも対応 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • 光学測定器

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光ビーム解析モジュール『AP013』

さまざまな光ビーム解析に対応する高機能画像処理解析システム

『AP013』は、レーザや光ファイバ・光モジュールなどの光ビームプロファイル 計測をはじめ、NFP・FFP・コリメート光等のさまざまな発光パラメータ計測を 目的とした画像処理・解析用モジュールです。 当社の光計測用光学系M-Scopeシリーズ・2次元光検出器ISAシリーズとの組合せにより、 可視~近赤外波長域のさまざまな光ビーム観察・光パラメータ計測に応用が可能です。 【特長】 ■解析装置(PC本体)・解析ソフトウエア・検出器ドライバ・補正データの  セットで直ちに使用可能 ■【Optometrics BA Standard】さまざまな光ビームプロファイル計測に  対応した高機能光ビーム計測解析ソフトウエア ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • 光学測定器

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多軸電動ステージシステム CMS-1

回転軸(Yaw / Pitch )、直動軸(X / Y / Z)の電動ステージを組み合わせ一括で制御

電動ステージ及びその制御までをまとめた製品です。 付属のPCソフトウェアで停止位置のティーチングや、位置の記憶、呼び出しが可能です。 軸の追加やDLLの提供などオプションをご用意しております。 光源や測定器と本器を組み合わせて イメージセンサー評価、FPD評価などにご使用頂けます。

  • CMS-1-2.jpg
  • その他光学部品
  • その他実験器具・容器

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II-VI 社 WaveShaper Bシリーズ

C/L/S帯の光スペクトルの強度と位相、群遅延を、独立に高い自由度で制御できる光フィルタです。

<通信帯域 スペクトル・分散制御プロセッサ WaveShaper Bシリーズ> Bシリーズはフィルタの更新レート最大30Hz(フィルタ設定による)をサポート。高速スイッチングやフィルタの高速スキャニングが必要とされるアプリケーションに最適です。例えば、異なるフィルタ形状の高速切替が求められるシステム試験や製造工程において、処理効率の向上が可能となります。 さらに、弊社ではWaveShaperのポテンシャルを最大限に引き出す 当社オリジナル・ソフトウェアのサポートをご提供しております。 詳細は別ページの「オリジナル・ソフトウェア」をご覧ください。 その他、弊社ならではの技術サポートもご用意しております。 ●製品に精通した当社技術部エンジニアによる製品説明、デモ対応、実験サポート、トレーニングサービス ●WaveShaperの修理対応(電源系、ファン、ファイバ端面等の交換・修理) お気軽にお問合せください。

  • その他プロセス制御

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波長セレクター

仕様面に関しましては通常のバンドパスフィルターと比較をしても非常に高性能です!

『波長セレクター』は、中心波長、半値幅を手軽な操作で選択できます。 中心波長は機種により350nm~900nmまで、半値幅は2nm~16nmまで 選択が可能。ソフトウェアによる波長制御ができる機種と、手動でできる 機種があり、お客様が希望される使い勝手、波長範囲で機種を選定できます。 仕様面に関しては、通常のバンドパスフィルターと比較をしても 非常に高性能です。 【特長】 ■米国のSPECTROLIGHT Inc(スペクトロライト社)製 ■中心波長、半値幅を手軽な操作で選択可能 ■中心波長は機種により350nm~900nm、半値幅は2nm~16nmまで選択可能 ■お客様が希望される使い勝手、波長範囲で機種を選定できる ■一つの装置で中心波長を複数選択可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他光学部品

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イメージセンサー検査光源 輝度箱『LSB-1010WCRI』

高機能シリーズの新機軸!高演色Ra=97のLEDを使用した輝度箱をご紹介します!

『LSB-1010WCRI』は、パルス点灯機能等の補助機能で様々な検査環境に これ1台で対応可能な輝度箱です。 短期間で高品質な製品を開発・管理する方にお勧め。 「輝度範囲の拡大」「拡散板の変更」「筐体色の変更」 「制御PCソフトウェアの作成」などのカスタムに幅広く対応します。 【特長】 ■輝度の変更範囲 16.5EV、92,000倍→102dBに相当 ■高い輝度均一性 95% ■輝度フィードバック Gen.3搭載 ■任意の輝度を直接設定 ■高演色Ra=97のLEDを使用 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • image_7198.png
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  • その他機械要素

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9点式配光テスタ『STB-209XL2』

9個の独立した受光部が有り、1回の発光を配光位置9点同時に光量測定が可能

『STB-209XL2』はデジカメ、灯台、空港等のマーカーなどキセノン管による ストロボ等の発光光量、発光時間、配光分布を測定します。 9個の独立した受光部が有り、1回の発光を配光位置9点同時に 光量測定(lxs)できます。 また、照度測定モードでは同時に9箇所の照度測定(lx)が可能です。 【特長】 ■キセノンとLEDの両発光を観測 ■発光時間やピークの光量を測定 ■PCソフトウェアにてデータ管理 ■測定データはCSV形式で保存可能 ■受光部はマグネット吸着式で脱着が簡単 ■9点の受光部でストロボフラッシュの発光光量及び光量分布を測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他画像関連機器

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可視化システム『Particle Viewer PV2シリーズ』

独自のリアルタイム画像処理技術により超高感度の可視化を実現!

『Particle Viewer PV2シリーズ』は、目に見えない微粒子の可視化が 誰でも簡単に行える微粒子可視化システムです。 リアルタイムでの「スルー」「軌跡」「強調」3モード切替機能により 現象に合わせて最適化が可能です。 また、カメラ設定や画像処理内容を専用ファイルにて保存読込ができ、 撮影パターンに合わせた一貫した処理がより手軽に行えます。 【特長】 ■USB3.0バスパワーにより電源不要で狭い場所でも設置がしやすい  310万画素の高解像カメラ採用 ■誰でも簡単操作ができる使いやすいソフトウェア ■粒子像だけを受光できる光学フィルター採用により、大幅なS/N比の向上 ■ノイズリダクションフィルターによるノイズ低減機能で  鮮明な可視化を実現 ■背景除去機能により背景の影響を抑え微粒子像を抽出 など ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • 欠陥検査装置
  • その他検査機器・装置
  • 光学測定器

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光計測・検査装置『ウエハレベル光素子特性測定装置』

電気・光学特性測定をウエハレベルで解析するシステム

『ウエハレベル光素子特性測定装置』は、VCSELやLEDなどの発光素子、 フォトダイオードや照度センサなどの受光素子の電気・光学特性測定をウエハ レベルで解析するシステムです。 当製品は、セミオートプローバやマニュアルプローバ等の半導体故障解析用 プローバシステムと、当社の各種光計測用光学系 M-Scopeシリーズ、測定光源、 測定器等を組合せて、光半導体素子の電気・光学諸特性をウエハレベルで解析・ データ収集を行うシステムです。 また、セミオートプローバとの組み合わせにより、ウエハの自動測定に対応することも可能です。 【特長】 ■発光素子・受光素子のさまざまな電気・光学特性測定をウエハレベルで測定可能 ■各種測定の自動化・高速化・省力化を実現 ■当社製光計測用光学系M-Scopeシリーズ各種光学系を搭載可能 ■光計測・解析ソフトウエアOptometrics Customized Versionを搭載 ■個別素子の測定からインライン使用まで幅広く対応可能 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • マイクロスコープ
  • その他計測・記録・測定器
  • 光学測定器

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