【半導体製造向け】CameraLink エリアカメラシリーズ
高信頼性CameraLinkで、半導体製造の欠陥検出をサポート
半導体製造業界では、微細化・高集積化が進む中で、製品の品質を保証するために微細な欠陥を正確に検出することが求められています。特に、製造ラインの高速化に伴い、高解像度かつ高フレームレートでの画像取得が不可欠となっています。わずかな欠陥も見逃さず、不良品の流出を防ぐためには、信頼性の高い画像検査システムが重要です。CameraLink エリアスキャンカメラシリーズは、シンプルで高信頼性のCameraLinkインターフェースとSONY Pregius 2nd Gen CMOSセンサーを組み合わせることで、高画質・高感度・高fpsを実現し、半導体製造における精密な欠陥検出ニーズに応えます。 【活用シーン】 ・ウェハー検査 ・チップ外観検査 ・実装基板検査 【導入の効果】 ・微細な欠陥の検出精度向上 ・検査プロセスの高速化 ・生産歩留まりの改善
- 企業：ジャパンボーピクセル株式会社
- 価格：応相談
