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赤外カメラとSWIR光源の組み合わせにより、高倍率観察が行える近赤外撮影用テレセントリックレンズ
株式会社ケンコー光学が取り扱う、NIR テレセントリックレンズ 『KCM-10D-64SWIR』についてご紹介いたします。 赤外カメラとSWIR光源の組み合わせにより、高倍率観察が行えます。 カメラマウントはCで、光学倍率は10倍。適合カメラは2/3インチと なっております。 【仕様】 ■光学倍率：10 ■W.D.：64mm ■被写界深度（mm）：0.021 ■分解能（μm）：2.8 ■N.A.：0.24 ■光ディストーション（%）：0.10 ■有効Fナンバー：20.9 ■重量（g）：512 ■適合カメラ：2/3インチ ■カメラマウント：C ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
R&D、エレクトロニクス、半導体、医薬、食品、化粧品など多岐にわたる業界に使用できます！
株式会社ケンコー光学が取り扱う、NIR テレセントリックレンズ 『KCM-2UMP-NIR』についてご紹介いたします。 赤外カメラとSWIR光源の組み合わせで、高倍率観察が可能。 光学倍率:2、W.D.:65mm、N.A.：0.1、カメラマウント：Cなどの 仕様となっております。 【仕様】 ■光学倍率：2 ■W.D.：65mm ■被写界深度（mm）：0.2 ■分解能（μm）：5.7 ■N.A.：0.1 ■光ディストーション（%）：0.98 ■有効Fナンバー：10 ■重量（g）：100 ■適合カメラ：1.1インチ ■カメラマウント：C ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
適合カメラは、1.1インチ！近赤外波長コート@1100nmを中心に高い透過率を実現しました
株式会社ケンコー光学が取り扱う、NIR テレセントリックレンズ 『KCM-4DUMP-NIR』についてご紹介いたします。 W.D.65mm、光ディストーションは0.59%、適合カメラは、1.1インチと なっております。 近赤外波長コート@1100nmを中心に高い透過率を実現し、赤外カメラと SWIR光源の組み合わせで、高倍率観察が可能です。 【仕様】 ■光学倍率：4 ■W.D.：65mm ■被写界深度（mm）：0.08 ■分解能（μm）：5.3 ■N.A.：0.12 ■光ディストーション（%）：0.59 ■有効Fナンバー：16.7 ■重量（g）：144 ■適合カメラ：1.1インチ ■カメラマウント：C ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
高倍率観察が可能！半導体デバイスの内部の観察や電気・電子部品の非破壊検査などに使用できます
『テレセントリックレンズ』は、近赤外波長コート＠1100nmを中心に 高い透過率を実現しました。 赤外カメラとSWIR光源の組み合わせで、高倍率観察が可能。 シリコンウェハーやICチップなどの半導体デバイスの内部の観察をはじめ、 ソーラーパネルやLCDなどの電気・電子部品の非破壊検査や、ウェハーや フリップボンダー用の位置決めにお使いいただけます。 【特長】 ■近赤外撮影用 ■近赤外波長コート＠1100nmを中心に高い透過率を実現 ■赤外カメラとSWIR光源の組み合わせで、高倍率観察が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
1ピクセル3μm未満のCMOSセンサーに対応した高解像テレセントリックレンズ
Cマウントで1.2インチ 1ピクセル3μm未満のCMOSセンサーに対応した高解像設計 WD65mmシリーズ 0.5x 0.69x 1x 2xを発表
固体中の異物混入や欠落品の検査などに！同軸落射のテレセントリックレンズ
株式会社ケンコー光学が取り扱う、NIR テレセントリックレンズ 『KCM-1DUMP-NIR』についてご紹介いたします。 同軸落射で、ソーラーパネルやLCDなどの電気・電子部品の非破壊検査や 固体中の異物混入や欠落品の検査などの用途にお使いいただけます。 ご用命の際は、お気軽にお問い合わせください。 【仕様】 ■光学倍率：1 ■W.D.：65mm ■被写界深度（mm）：0.63 ■分解能（μm）：9.1 ■N.A.：0.063 ■光ディストーション（%）：-0.10 ■有効Fナンバー：7.9 ■重量（g）：145 ■適合カメラ：1.1インチ ■カメラマウント：C ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
近赤外波長コート@1100nmを中心に高い透過率を実現したテレセントリックレンズのご紹介です！
株式会社ケンコー光学が取り扱う、NIR テレセントリックレンズ 『KCM-1UMP-NIR』についてご紹介いたします。 近赤外波長コート@1100nmを中心に高い透過率を実現し、 近赤外撮影に好適。 R&D、エレクトロニクス、半導体、医薬、食品、化粧品など 多岐にわたる業界に使用いただけます。 【仕様】 ■光学倍率：1 ■W.D.：65mm ■被写界深度（mm）：0.63 ■分解能（μm）：9.1 ■N.A.：0.063 ■光ディストーション（%）：-0.10 ■有効Fナンバー：7.9 ■重量（g）：120 ■適合カメラ：1.1インチ ■カメラマウント：C ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ソーラーパネルやLCDなどの電気・電子部品の非破壊検査にお使いいただけます！
株式会社ケンコー光学が取り扱う、NIR テレセントリックレンズ 『KCM-4UMP-NIR』についてご紹介いたします。 光学倍率は4倍、被写界深度0.08mm、分解能5.3μmなどの 仕様となっております。 固体中の異物混入や欠陥品の検査に、ソーラーパネルやLCDなどの 電気・電子部品の非破壊検査にお使いいただけます。 【仕様】 ■光学倍率：4 ■W.D.：65mm ■被写界深度（mm）：0.08 ■分解能（μm）：5.3 ■N.A.：0.12 ■光ディストーション（%）：0.59 ■有効Fナンバー：16.7 ■重量（g）：118 ■適合カメラ：1.1インチ ■カメラマウント：C ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
光学倍率は2倍！近赤外撮影に好適な同軸落射のテレセントリックレンズのご紹介です
株式会社ケンコー光学が取り扱う、NIR テレセントリックレンズ 『KCM-2DUMP-NIR』についてご紹介いたします。 近赤外撮影に好適で、シリコンウェハーやICチップなどの半導体デバイスの 内部を観察する際などにお使いいただけます。 ご用命の際は、お気軽にお問い合わせください。 【仕様】 ■光学倍率：2 ■W.D.：65mm ■被写界深度（mm）：0.2 ■分解能（μm）：5.7 ■N.A.：0.1 ■光ディストーション（%）：0.98 ■有効Fナンバー：10 ■重量（g）：127 ■適合カメラ：1.1インチ ■カメラマウント：C ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
標準規格品として全品1個から販売。完全在庫販売のため、短納期で供給致します。
■高解像力撮像用にデザイン ■ファイバー光源接続用の同軸落射照明用ポート装備 ■Cマウントデザイン; 許容カメラフォーマット ≦2/3型
標準規格品として全品1個から販売。完全在庫販売のため、短納期で供給致します。
■ファイバー光源接続用の同軸落射照明用ポート装備 ■65mmと120mmの2種類の作動距離をラインナップ ■2/3型対応Cマウントレンズ
