ロールパターン測定器『RPI-P』
大型ワークなどに！光源の切替無しに測定画像とカラーCCD画像の同時観察が可能
『RPI-P』は、ロールの上に設置する事で手軽に高分解能・高解像度の 測定が出来るロールパターン測定器です。 レーザースキャンにDMD(Digital Micromirror Device)を採用する事で高速・ 広角スキャンの測定が可能に。 また、コンフォーカル(共焦点)光学系により非接触で三次元形状及び全てに 焦点の合った画像取得する事が出来ます。 【特長】 ■手軽に高分解能・高解像度の測定が出来る ■レーザースキャンにDMD(Digital Micromirror Device)を採用 ■高速・広角スキャンの測定が可能 ■非接触で三次元形状及び全てに焦点の合った画像取得する事が出来る ■光源の切替無しに測定画像とカラーCCD画像の同時観察が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
- Company：大倉インダストリー株式会社
- Price：応相談
