FT-NIR プロセス分光計『MATRIX-F II』
プロセス用途の要求を満たすFT-NIRシステム！過酷な環境にも設置可能です！
『MATRIX-F II』は、プロセスアプリケーション専用のフーリエ変換 近赤外分光計（FT-NIR）です。 革新的な設計により、高精度で一貫した分析結果、ダウンタイムの短縮、 分析メソッドの直接的な移設を実現するとともに、新たなアプリケーションの 可能性を提供。 業界標準の通信プロトコルを完全にサポートしており、上位システムにも 簡単に統合できます。 【特長】 ■正確なインライン測定結果を数秒で出力 ■複数の項目を同時に分析 ■非破壊分析 ■6ポートマルチプレクサを内蔵 ■手間のかからない分析メソッドの移設 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部
- 価格：応相談
