IGBT/SiC パワーモジュール検査装置『NATSシリーズ』
車載パワー半導体（IGBT,SiC）モジュール絶縁 静特性 動特性検査装置
当社で取り扱う、IGBT/SiC パワーモジュール検査装置『NATS Series』を ご紹介いたします。 低LS値を実現し、高精度検査に対応した絶縁/静特性/動特性自動検査装置 「NATS-1000」や、DC/AC Testが可能な「NATS-1304」などさまざまなラインナップをご用意しています。 ぜひお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■絶縁検査(ISO) ■静特性検査(DC) ■動特性検査(AC) ■高温検査～175℃(～200℃) ■高スループット最大144UPH(25秒/ユニット) ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
