レーザー光源のメーカーや取扱い企業、製品情報、参考価格、ランキングをまとめています。
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レーザー光源(カメラ) - メーカー・企業と業務用製品 | イプロスものづくり

レーザー光源の製品一覧

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キセノン,クリプトン,ネオン、エキシマレーザー

ネオン、クリプトン、キセノンは各種照明やエキシマレーザー用途、クリプトンは断熱用複層ガラス・キセノンは医療用にも使用されます。

技術の高度化に伴い、レアガスに対するお客様のニーズも日々変化しております。岩谷グループでは高純度ガスから様々な比率の混合ガスまで、幅広いご要望にお応えいたします。 ●お客様に適した充填量および荷姿をご提案いたします。 ●ご指定の混合ガス、混合比率で生産いたします。 ●それぞれの容器にガス成績表を添付いたします。

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高解像度2μm 対応近赤外ビューア

OptogamaのIR viewerは 幅広いスペクトルレンジで倍率が選べ、焦点距離も変えられる高性能型。

IR Viewerは近赤外域のレーザ光をモノクロイメージで可視化できるもので、軽量ハンディタイプ IC series (Image conversion) ●高解像度:60 LP/mm ●波長域:350~ 2000nm, 350~1700nm, 350~1300nm DIG series (Digital version) ●高解像度:30 LP/mm ●波長域:400~ 1700nm, 400~1300nm ●レンズが選べる ●60時間連続使用が可能  ●バッテリー(IC series- 60時間) (DIG series -9時間)(外部電源DC3V, 30mAも可能) ●USBから充電可能 ●ハンディタイプ: 400g (付属のポストで固定も可能) ●パルスレーザ、CWレーザ対応 ●CCDカメラ用アダプタ使用でPCに表示可能  

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超広視野レーザ走査イメージャ『LSM-4000シリーズ』

走査幅4mmで0.2μmレベルの欠陥を検出!標準型レーザ走査イメージャをご紹介

『LSM-4000シリーズ』は、顕微鏡でもなくCCDカメラでもない第3の観察装置です。 幅広な長い画像を撮ることができ、細かな欠陥検査に好適。 セラミックス等のマイクロクラック、異物の検出が可能です。 当シリーズの他、大型レーザ走査イメージャ「LSM-6000シリーズ」や小型 レーザ走査イメージャ「LSM-3000シリーズ」もラインアップしています。 【LSM-4000シリーズ 特長】 ■標準型レーザ走査イメージャ ■透明フィルム、サファイア、ガラス、セラミックスなど、数μmのキズや  異物の検出(2画面表示) ■スーパーバリアフィルム、ITO膜のリペアー部検出 ■セラミックス等のマイクロクラック、異物の検出可能 ■走査幅4mmで0.2μmレベルの欠陥を検出 ■走査レンズは交換可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • マイクロスコープ
  • レーザー光源

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超広視野共焦点レーザ走査イメージャ検査装置

ユーザカスタマイズ可能!レーザ顕微鏡の光学系を使用した新しい検査装置

当製品は、顕微鏡でもCCDカメラでもない第3の観察、検査装置です。 レーザラスター走査なので顕微鏡に比べ100倍以上の大きい視野を持っており、 長い画像(Yステージ移動)を撮り走査幅に応じてX軸を移動させると さらに広範囲な画像を取り込めます。 また、この他に、円筒面への描画や通常の平面基板への描画ができる 「テレセンfθ型レーザ直接描画装置」と描画用光学ユニット「LSU」も 取り扱っています。 【超広視野共焦点レーザ走査イメージャ検査装置 特長】 ■光学顕微鏡では見にくい透明フィルムやセラミックスなどの画像取得が可能 ■レーザラスター走査なので顕微鏡に比べ100倍以上の大きい視野を持つ ■長い画像(Yステージ移動)を撮り走査幅に応じてX軸を移動させると  さらに広範囲な画像を取り込める ■走査レンズは特注仕様も可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • マイクロスコープ
  • レーザー光源

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FPD各種部材、光学欠陥検査装置、比類なき広視野

FPD各種部材、光学欠陥検査装置、比類なき広視野 従来比5倍高速・高解像度、超広視野共焦点型・高分解能1μm

超広視野共焦点型・高分解能1μm、微小欠陥検査レーザ走査イメージャ 従来の顕微鏡光学系やSEMなどは狭い領域を高解像度で観察できるが、広い領域を簡便に観察できない。この課題をレーザ走査イメージャが解決します。 50×50mm範囲を3D形状計測できる 計測時間:1μm分解能 約35秒 5μm分解能 約10秒 ●計測幅:0.8μm 深さ:5nm ●最大45度傾斜で、形状測定が可。 ●キズや深い穴の欠陥も検出可。 レーザ走査イメージャの特徴 ・従来の顧微鏡やCCDカメラやラインセンサの欠点を克服した 新しい観察装置(照明装置がいらない) ・広い観察領域(顕微鏡の100倍以上)と長いWDを持つ新開発専用走査レンス ・コントラストの高いレーザ共焦点方式光学ユニット ・レーザ共焦点顕微鏡光学系では初のラスター走査方式(長く大きな画像で大面積の画像を取得できる、マルチスキャン機能搭載) ・概略仕様 走査分解能が高い(1走査最大20000点)走査スピード4000ライン/秒 レーザはLD405nmを使用(650、830nmもあり) ・パソコンモニター上で拡大画像が見られる始めての装置です

  • 欠陥検査装置
  • レーザー光源

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