レーザー光源のメーカーや取扱い企業、製品情報、参考価格、ランキングをまとめています。
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レーザー光源(検査) - メーカー・企業と製品の一覧

更新日: 集計期間:2025年08月20日~2025年09月16日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。

レーザー光源の製品一覧

1~13 件を表示 / 全 13 件

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【特集】不良ゼロを目指す「外観検査システム」

欠陥場所を拡大すると微小欠陥が見えてくる!検査装置の概要をご紹介します

当資料では、超広視野レーザ走査イメージャ欠陥検査装置の概要について ご紹介しています。 「欠陥検査装置とレーザ走査技術」をはじめ、「開発の経緯と独自技術の特長」 や「開発事例」などを掲載。 ぜひご一読ください。 【掲載内容】 1.欠陥検査装置とレーザ走査技術 2.開発の経緯と独自技術の特長 3.開発事例 4.外観検査市場の動向と当社の対応 5.現在使われているレーザ走査イメージャの例 6.応用、ユーザメリット ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • マイクロスコープ

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【特集】ウェブ検査システム 生産性向上のための9つのアドバイス

欠陥検査装置とレーザ走査技術や開発事例等を掲載!検査装置の概要をご紹介します

当資料では、超広視野レーザ走査イメージャ欠陥検査装置の概要について ご紹介しています。 「欠陥検査装置とレーザ走査技術」をはじめ、「開発事例」や「市場動向 とオプセルの対応」などを掲載。 ぜひご一読ください。 【掲載内容】 1.欠陥検査装置とレーザ走査技術 2.開発の経緯と独自技術の特長 3.開発事例 4.市場動向とオプセルの対応 5.現在使われているレーザ走査イメージャの例 6.応用、ユーザメリット ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • マイクロスコープ

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超広視野共焦点レーザ走査イメージャ検査装置

ユーザカスタマイズ可能!レーザ顕微鏡の光学系を使用した新しい検査装置

当製品は、顕微鏡でもCCDカメラでもない第3の観察、検査装置です。 レーザラスター走査なので顕微鏡に比べ100倍以上の大きい視野を持っており、 長い画像(Yステージ移動)を撮り走査幅に応じてX軸を移動させると さらに広範囲な画像を取り込めます。 また、この他に、円筒面への描画や通常の平面基板への描画ができる 「テレセンfθ型レーザ直接描画装置」と描画用光学ユニット「LSU」も 取り扱っています。 【超広視野共焦点レーザ走査イメージャ検査装置 特長】 ■光学顕微鏡では見にくい透明フィルムやセラミックスなどの画像取得が可能 ■レーザラスター走査なので顕微鏡に比べ100倍以上の大きい視野を持つ ■長い画像(Yステージ移動)を撮り走査幅に応じてX軸を移動させると  さらに広範囲な画像を取り込める ■走査レンズは特注仕様も可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • マイクロスコープ

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【画像・計測用】青色/緑色系レーザー光源

ご要望により各種光学系に対応!青色/緑色系波長で長寿命で安定した性能が得られます

『青色/緑色系レーザー光源』は、高反射対象物の検査に有効です。 さまざまな産業分野の計測技術の高度化に従ってレーザー光源にもさらに 高性能化が求められてきております。 従来の「SLシリーズ」に様々な対象物に対応出来る波長・出力が 新たにラインアップ。 青色/緑色系波長で従来より長寿命で安定した性能が得られます。 【特長】 ■波長・出力(その他の波長にも応じます。)  ・405nm:35mW.100mW  ・450nm:100mW  ・520nm:50mW.80mW ■高反射対象物の検査に有効 ■簡易外部焦点調整 詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問合せください。 【お問合せ】 弊社へのお問合せは、『関連リンクのお問合せ』からお願いいたします。

  • 光学測定器
  • 三次元測定器
  • 画像処理用照明

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FPD各種部材、光学欠陥検査装置、比類なき広視野

FPD各種部材、光学欠陥検査装置、比類なき広視野 従来比5倍高速・高解像度、超広視野共焦点型・高分解能1μm

超広視野共焦点型・高分解能1μm、微小欠陥検査レーザ走査イメージャ 従来の顕微鏡光学系やSEMなどは狭い領域を高解像度で観察できるが、広い領域を簡便に観察できない。この課題をレーザ走査イメージャが解決します。 50×50mm範囲を3D形状計測できる 計測時間:1μm分解能 約35秒 5μm分解能 約10秒 ●計測幅:0.8μm 深さ:5nm ●最大45度傾斜で、形状測定が可。 ●キズや深い穴の欠陥も検出可。 レーザ走査イメージャの特徴 ・従来の顧微鏡やCCDカメラやラインセンサの欠点を克服した 新しい観察装置(照明装置がいらない) ・広い観察領域(顕微鏡の100倍以上)と長いWDを持つ新開発専用走査レンス ・コントラストの高いレーザ共焦点方式光学ユニット ・レーザ共焦点顕微鏡光学系では初のラスター走査方式(長く大きな画像で大面積の画像を取得できる、マルチスキャン機能搭載) ・概略仕様 走査分解能が高い(1走査最大20000点)走査スピード4000ライン/秒 レーザはLD405nmを使用(650、830nmもあり) ・パソコンモニター上で拡大画像が見られる始めての装置です

  • 欠陥検査装置

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高出力ラインレーザー光源『ILS/FIRELINEシリーズ』

【三次元画像処理】マシンビジョンや光切断計測、光三次元計測などに適しています

『ILS/FIRELINEシリーズ』は、サーモエレクトリック クーラー内蔵の高出力ラインレーザー光源です。 高出力のシリーズに波長・出力が新たにラインアップされました。 高性能の安定したラインレーザービーム性能が得られます。 当製品は、マシンビジョンや光切断法による光三次元計測、 各種レーザー計測、フローサイトメトリー、 バイオフォトニクスなど、様々なご要求に対応できます。 ご要望に応じて光学系、線幅、ライン長、作動距離など カスタム設計させていただきます。 【特長】 ■高耐久設計 ■簡易外部焦点可変機構 ■高いビーム位置安定性 ■サーモエレクトリック・クーラー内蔵 ■1年間の製品保証 詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問合せください。 【お問合せ】 弊社へのお問合せは、『関連リンクのお問合せ』からお願いいたします。

  • 画像処理用照明
  • 光学測定器
  • 三次元測定器

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【カタログ進呈中】レーザ光源製品 ※OPIE’23出展

【開発製品update】小型マイクロチップレーザの高出力化や波長変換タイプ、実験や検査に使用可能な光源製品、光機能製品などを紹介

オプトクエストではレーザ結晶や波長変換材料を組合せたレーザ光源や波長変換器の開発・製造を行っております。 <製品紹介> ■マイクロチップレーザ  ※10mJ以上の高エネルギ―タイプを開発中。 手のひらサイズの小型、軽量ヘッドでレーザ加工やアブレーションをはじめ、レーザ超音波検査やピーニング、環境計測、質量分析など様々な用途で使用可能。波長変換タイプ(532nm、355nm、266nm)の対応も可能です。 ■近赤外スーパーコンテニューム光源 独自のパルスシーダを用いた安定性の高い広帯域光源(白色光源)光部品の検査光源や理化学分析用広帯域光源などの幅広い用途に。 ■フェムト秒ファイバレーザ 独自開発したオールファイバ型可飽和吸収機構を搭載した受動モード同期ファイバレーザ。高いパワー安定性・偏波安定性を実現。一般的なファイバレーザと比べて寿命が長く、メンテナンスフリー。 ■小型EDFA USBバスパワーにて駆動可能なEDFA(光アンプ)小型(φ75mm、高さ20mm)、省電力、PC制御ソフト(同時に4台制御可能) ※お客様のお困りごとに応じてカスタム品や開発品も承ります。

  • 光学実験部品

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ミニレーザー光源(CLシリーズ)

独自のビームシェイピング技術を用いた、スーパーコンパクト・高耐久設計のラインレーザー光源

ミニレーザーCLは独自のビームシェイピング技術を用いた、スーパーコンパクト・高耐久設計のラインレーザー光源です。 ■外径 9.4mm ■全長  57mm 詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問合せください。 【お問合せ】 弊社へのお問合せは、『関連リンクのお問合せ』からお願いいたします。

  • 光学測定器
  • 三次元測定器
  • 画像処理用照明

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高解像度2μm 対応近赤外ビューア ABRIS-M

ABRIS-Mは 幅広いスペクトルレンジで倍率が選べ、焦点距離も変えられる高性能型。CCDカメラタイプ,CMOSカメラタイプ有り

IR Viewerは近赤外域のレーザ光をモノクロイメージで可視化できるもので、軽量ハンディタイプ ABRIS-M  特長 ●高解像度:60 LP/mm ●波長域:350~ 2000nm, 350~1700nm, 350~1300nm ●35時間連続使用が可能  ●バッテリー(35時間)(外部電源DC3V, 30mAも可能) ●ハンディタイプ: 400g (付属のポストで固定も可能) ●IRカットフィルター付き Contour IR-CCD は CCDカメラ型の近赤外ビューアで、高感度・低ノイズCCDカメラを使用したコンパクトタイプ。費用効果が高く、近赤外域の観察・検査・登録・記録などの幅広い用途に使用できる。 Contour IR Degital CMOS cameraは 最新のデジタルCMOSカメラ型近赤外ビューアで、高感度・低ノイズを実現している最新のCMOS技術を使用した軽量コンパクトタイプ。費用効果が高く、近赤外域の観察・検査・登録・記録などの幅広い用途に使用できる。  

  • その他

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レーザ走査干渉計

光沢紙程度の反射で干渉縞が出現!干渉縞で50mmの変化をとらえる干渉計

当製品は、レーザ走査を用いた干渉計です。 光沢紙程度の反射で干渉縞が出現。干渉縞で50mmの変化をとらえます。 サンプルをガラス面に置けば、簡単に干渉縞が見える倒立型の「LSMi-7000」 をはじめ、円筒用の「LSMi-7500」や正立型の「LSMi-8000」をラインアップ。 この他にも、5×50mmの範囲を3D形状計測できる超広視野共焦点型レーザ 走査イメージャ「LSM-5100-MH」も取り扱っています。 【特長】 <倒立型レーザ走査干渉計「LSMi-7000」> ■走査範囲は30mm×50mm、モニター上で拡大観察可能 ■セラミックスなどの細い傷、研磨不良、欠けなどが検査可能 <円筒用レーザ走査干渉計「LSMi-7500」> ■円筒の全面で干渉縞を観察可能、円筒の精密検査が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • マイクロスコープ

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超広視野レーザ走査イメージャ『LSM-4000シリーズ』

走査幅4mmで0.2μmレベルの欠陥を検出!標準型レーザ走査イメージャをご紹介

『LSM-4000シリーズ』は、顕微鏡でもなくCCDカメラでもない第3の観察装置です。 幅広な長い画像を撮ることができ、細かな欠陥検査に好適。 セラミックス等のマイクロクラック、異物の検出が可能です。 当シリーズの他、大型レーザ走査イメージャ「LSM-6000シリーズ」や小型 レーザ走査イメージャ「LSM-3000シリーズ」もラインアップしています。 【LSM-4000シリーズ 特長】 ■標準型レーザ走査イメージャ ■透明フィルム、サファイア、ガラス、セラミックスなど、数μmのキズや  異物の検出(2画面表示) ■スーパーバリアフィルム、ITO膜のリペアー部検出 ■セラミックス等のマイクロクラック、異物の検出可能 ■走査幅4mmで0.2μmレベルの欠陥を検出 ■走査レンズは交換可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • マイクロスコープ

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GAM社製エキシマレーザーシリーズ

高繰り返し・長寿命・コンパクトなエキシマレーザー!

当社では、GAM LASER社製の『エキシマレーザー』を取り扱っております。 『エキシマレーザー』は、希ガスやハロゲンなどの混合ガスを用いて レーザー光を発生させる装置で、半導体リソグラフィ(ステッパー)、 インクジェットノズルの穴あけ、液晶アニーリングなど様々な分野で 利用されております。 【特長】 ■ダイレクトにUVレンジの光が取り出せる ■高ピークパワーのパルス発振 ■アブレーション加工のため、熱影響が少ない ■ガスを入れ替えるだけで数種類の波長が発振できる ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • ガス発生装置
  • その他理化学機器

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小型マルチカラーレーザ光源

カスタム対応可能!高い出力安定性を手のひらサイズで実現した小型マルチカラーレーザ光源

当製品は、バイオメディカル用に好適な小型マルチカラーレーザ光源です。 最大4波長をご選択でき、単一ファイバから同時出力も可能。 高い出力安定性を手のひらサイズで実現しており、装置の小型・ 低コスト化に適しています。 また、ドライバオプション搭載によりプラグアンドプレイ化が可能です。 【特長】 ■最大4波長(405nm~905nm)のレーザを選択可能 ■当社独自の532nm, 561nm, 594nm高安定出力レーザ光源搭載可能 ■手のひらサイズの小型パッケージ(80x80xt30mm) ■ファイバ曲げに強い安定した光出力(安定性<2%) ■CW,パルス駆動ドライバ(オプション)によるプラグアンドプレイ化 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • レーザ部品

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