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【Youtube動画リンク付の資料を進呈】操作性向上！独自技術による世界最高レベルの再現性
『BELSORP MINI X』は最大４検体同時に高精度評価が可能な 比表面積・細孔分布測定装置です。 比表面積：0.01m 2/g以上(N2) 細孔分布：0.7～500nm(直径) ガス導入最適化機能GDOにより、測定時間の大幅短縮を実現。 また、最少条件設定により吸着等温線を自動測定することが可能です。 【特長】 ■最大4検体同時高密度測定 ■測定時間の大幅短縮を実現 ■ガス導入最適化（GDO)機能により、各吸着点を確実に短時間で評価 ■最少条件設定により吸着等温線を自動測定 ■AFSMおよびHeガス不要なAFSM2による再現性の高い評価 ※Youtube動画リンク付の資料をダウンロードいただけます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
CO2を排出しないクリーンエネルギー“電池” の材料評価に ～Xの 卓越した優位性 を搭載した比表面積・細孔分布測定装置
BELSORP MINI Xは比表面積評価による導電材の性能把握が可能な製品です。 また、全固体電池の電極材料（酸化物・硫化物）を大気にさらすことなく比表面積や緻密性（細孔分布）の評価を実現しました。 近年、世界中でHe ガス供給不足が叫ばれている中、Heガスを利用せずに高精度な比表面積評価が可能な製品です。 【用途】 触媒・電池電極/導電材・カーボン・薬品・化粧品・セメント・トナー・顔料・セラミックス・半導体 ※詳しくはお問い合わせください。また、デモ・サンプル分析も受け付けておりますので、お気軽にお問い合わせ下さい。
高いメンテナンス性！バブルポイント法に準拠した非水銀・ガス透過法細孔径分布測定器
『POROMETER 3Gシリーズ』は、正確で信頼性の高い貫通細孔径分布 測定結果を提供する非水銀・ガス透過法細孔径分布測定器です。 通常は、どのようなサンプルでもわずか30分以内に測定できます。 フローパス内の圧力勾配の定期的な校正を必要としないため、 多数の機器の調整プロセスが大幅に簡単になります。 また、幅広い膜やろ過媒体の透気率や細孔径特性に応じた、 3種類の異なるモデルを用意しています。 【特長】 ■シート状サンプルの細孔径分布測定 ■非破壊試験により、再測定が可能 ■短時間測定（バブルポイント含め約20分以内） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
カーボン・セラミックス材料等の比表面積を独自技術により簡単・素早く・正確に！
当社が取り扱う、比表面積/細孔分布測定装置『BELSORP MINI X』を ご紹介します。 最大4検体、測定時間の大幅短縮、マルチリンクによるハイスループットの 新機能を導入。 新測定ソフトウェアにより、測定進捗の把握、メンテナンス時期の把握や 測定結果をメールにて送付するなど、ユーザーの労働生産性を向上させ、 さらに新解析ソフトウェア(BELMasterTM7)により、これまで以上に幅広い 材料の構造評価を可能としました。 【特長】 ■高精度・最大4検体同時測定 ■測定時間の大幅短縮を実現 ■ガス導入最適化機能GDOを搭載 ■最少条件設定により吸着等温線を自動測定 ■AFSM搭載により測定精度・再現性を向上 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
デモ/分析受付中 測定時間を大幅短縮・従来製品に比べ測定精度が10倍向上 Heガス不要な比表面積評価 電池材料、セラミックスなど
『BELSORP MINI X』は、各種機能性材料の比表面積・細孔分布、 低温から高温までの各種ガスの吸着等温線測定が可能な製品です。 AFSMによる世界最高水準の再現性とGDOによる測定時間の大幅な短縮が 可能。再現性が非常に高く、従来製品に比べ測定下限が10倍以上向上しました。 4つのサンプル測定ポートを備え、マルチデバイス制御などの ハイスループット機能を搭載しています。 【特長】 ■世界最高水準の再現性で最大4検体同時に短時間測定を実現 ■比表面積測定範囲 ・0.01m2/g以上（N2）：全表面積10m2の再現性±0.4% ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
約0.5ミクロンまでの粒子、液滴、スプレーの粒度分布測定が可能！デモ/分析/デモ機貸出受付中！
『AEROTRAC II』は、短い測定間隔で高精度な粉粒体解析するレーザ回折式 の粒度分布（粒子怪分布）測定装置です。 限られたスペースでも装置設置が可能！ガスレーザでは必要な定期的なレーザ交換が不要です。 高濃度の噴霧粉粒体でもレーザー光多重散乱の影響を最小に補正して 高精度測定が可能。 また、連続測定における測定間隔は0.02msec～500msecで、音速で空間を 飛翔する粉粒体の特性でも連続的に高精度測定ができます。 【特長】 ■幅広いアプリケーション ■多重散乱補正ソフトウェアを標準装備 ■各アプリケーションに対応した測定モード ■コンパクトな光学台 ■短い測定間隔で高精度な粉粒体解析 ■半導体レーザ搭載 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
