［AFM］原子間力顕微鏡法
ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測
AFMは、微細な探針で試料表面を走査し、ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測する手法です。 ・金属・半導体・酸化物など、絶縁体から軟質の有機物まで幅広い試料を測定可能 ・接触圧力が弱いタッピングモードを用いることで、試料ダメージを最小限に抑えることが可能
- 企業：一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
- 価格：応相談
原子間力顕微鏡(金属) - メーカー・企業と製品の一覧
原子間力顕微鏡の製品一覧
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AFMデータ集
AFM :原子間力顕微鏡法
AFMは微細な探針で試料表面を走査し、ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測する手法です。 金属・半導体・酸化物などの材料評価だけでなく、毛髪やコンタクトレンズなどのソフトマテリアルまで幅広い材料を測定可能です。 本資料では、様々な材質のAFM像をご紹介します。
- 企業：一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
- 価格：応相談
