光学系方式超微細導波路挿入損失測定装置
シリコンフォトニクス導波路等の微細構造導波路デバイスの挿入損失を高速・高精度測定可能！
『光学系方式超微細導波路挿入損失測定装置』は、当社の簡易型光計測用光学系 M-Scope type Jを使用した光学系方式挿入損失自動測定装置です。 光ファイバ計測ポートと同軸観察画像検出器により、被測定光導波路の 入射側・出射側コア端面画像を直接観察、同時に光ファイバによる 自動パワー調芯を行います。 画像処理による粗調芯と光ファイバ微調芯（光パワー調芯）を併用、 超微細導波路の挿入損失を高速かつ高い再現性で効率的に測定可能です。 【特長】 ■当社製汎用型偏光対策光計測用光学系M-Scope type J/PFを搭載 ■光ファイバ調芯方式と共役条件での挿入損失測定 ■専用の画像処理・自動調芯ソフトウエアを準備 ■電動位置決めステージとの組み合わせにより、画像処理・自動調芯による 高速・高再現性自動測定が可能 など ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
- 企業：シナジーオプトシステムズ株式会社
- 価格：応相談
