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半導体ウエハの欠陥を高精度に検出。生産効率向上に貢献。
半導体業界では、製品の品質を確保するために、ウエハや基板の微細な欠陥を正確に検出することが不可欠です。特に、製造プロセスの高度化に伴い、欠陥のサイズはますます小さくなっており、従来の検査方法では見逃してしまう可能性があります。当社の超高画素CoaXPressカメラは、広視野角と超高精細な撮像能力により、微細な欠陥を高精度に検出します。これにより、不良品の流出を防止し、歩留まりを向上させることが可能です。 【活用シーン】 ・半導体ウエハの欠陥検査 ・基板の異物検査 ・電子部品の外観検査 【導入の効果】 ・微細な欠陥の検出精度向上 ・不良品の流出防止 ・歩留まりの向上
基板チェックのリアルタイム検査で作業ミスを防止、画像ログでトレーサビリティを確保！
エレクトロニクス業界の基板チェックにおいては、微細な部品の配置や接続の正確性が製品の信頼性に直結します。 特に、類似部品の取り違えや部品の欠品、作業順序の間違いは、製品の性能低下や故障の原因となり得ます。 これらのミスを防ぎ、安定した品質を確保することが重要です。 作業検査カメラSC-20は、これらの課題に対応し、品質向上を実現する作業工程向け検査システムです。 【活用シーン】 ・基板上の部品実装状態の確認 ・部品の有無、向き、種類のチェック ・作業手順の遵守状況の確認 【導入の効果】 ・基板実装における作業ミスの削減 ・品質の安定化と不良品の流出防止 ・作業履歴の可視化によるトレーサビリティの向上
