更新日： 集計期間:2025年11月05日～2025年12月02日
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アルミ製の無透過スリットを形成！薄膜エッチング加工したエンコーダ用スケール！
メルテック製スケールはモーションコントロール技術に不可欠な部品として、 産業用ロボットや位置決めサーボ、生産工場の自動化、自動車産業などの 多くの分野で採用されています。 『ポリカーボネート仕様（透過式/反射式）』は、ポリカーボネート基材に 薄膜エッチング加工をしたエンコーダ用スケールです。 ガラス製同等のスペックを低コストで提供します。 【特長】 ■ガラス製同等のスペックを低コストで提供 ■耐衝撃性に優れ割れにくい ■高精細・高精度を実現 ■高耐熱性（耐熱温度120℃） ■透過式/反射式対応可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
フレキシブル・3つ孔タイプ！ケーブルを3本通しても高い防水・防塵性能を保ちます
『T-14757型』は、フレキシブル・3つ孔タイプのワンタッチグロメットです。 弾力のある薄膜が、3本のケーブルをそれぞれにぴったり密着。 押し込むだけで取り付けられ、特注で色変更も可能です。 ハロゲンフリー材料を使用しており、ブラック・ライトグレー・ホワイトの 3色をラインアップしています。 【特長】 ■押し込むだけで取り付けられる ■ケーブルを3本通しても高い防水・防塵性能を保つ ■特注で色変更も可能 ■弾力のある薄膜が、3本のケーブルをそれぞれにぴったり密着 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
薄膜（数um)～厚膜(780um)まで高精度に測定できる幅広いプローブをラインナップ。ウエハ検査用途にも。
『CHRocodile 2シリーズ』は、サブミクロン分解能でウエハ厚のインプロセス測定が可能な非接触センサーです。 抜き取りでの品質管理にも使われています。半導体業界の他、コンシューマー家電、ガラス製造、メディカル分野で採用されており、透明体厚み、コーティング厚み測定、複数層の同時測定（最大16層）に適しています。 【特長】 ■幅広い厚み測定範囲 、様々な材質に対応 豊富なプローブラインナップで、厚みは薄膜（数um)～厚膜(780um)までカバー。 材質に合わせて二つの原理方式から選択可能。 ■高分解能（サブミクロン 最小1nm） 「色収差共焦点方式」、「分光干渉方式」の原理による高分解能測定 ■開発コスト低減、開発納期短縮に貢献できる、 装置組込み用のソフト開発キット（DLLなど)も用意 ■多業界で豊富な実績 半導体業界、コンシューマー家電、ガラス製造、メディカル分野 ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。
光学式センサで、Si0.5~200umの広範囲の厚み測定。5kHzの高速サンプリング。加工中のモニタリング用途に最適。
非接触の光学厚み測定。高精度が求められる半導体ウエハの厚み測定でも適用可能。 新製品『CHRocodile 2 SX』は、ウエハやコーティングなど材料厚みを非接触測定できる装置です。最大5kHzと高速サンプリングが可能なため、インラインでも適用できます。Si等の半導体ウェハー厚み測定をはじめ、フイルム、樹脂、ガラス、太陽電池等の厚み測定も可能です。特に、ウエハグラインディング中に厚みモニタリングしたい場合には、Siウエハで200um~0.5umまで測定ができます。 【特長】 ■幅広い厚み測定範囲 、様々な材質に対応 豊富なプローブラインナップで、 厚みは、光学長で薄膜（数2um)～厚膜(1000um) Siで0.5~200umまで対応。 ■高分解能（サブミクロン 最小3nm @ 光学長） ■開発コスト低減、開発納期短縮に貢献できる、 装置組込み用のソフト開発キット（DLLなど)も用意 ■半導体業界で豊富な実績 ※詳しくは資料をご覧ください。
余分な検査をなくしたい！というお客様の声から作った当社のオリジナル製品
『カラタン（カラータングレスインサート）』は、タングレスインサートに 色を付けることで挿入作業後の確認を容易にした製品です。 目視チェックだけで挿入モレをなくすことが可能。 また、挿入時の塗膜ハガレ・アウトガスの心配がないため、半導体関連部品にも 採用いただけます。 【特長】 ■カラー化で挿入モレ防止 ■超薄膜で作業性そのまま ■ハガレ・アウトガスなし ■大きくタップを開けたりする手間は不要 ■材質：A2（SUS304） ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
リニアスケール＆ディスク（スリット板）を様々な仕様で作製します。
モーションコントロール技術に不可欠な部品、エンコーダ用スケールの受注製造を承ります。 金属エッチング加工や樹脂プレス加工で様々な仕様を提供します。 透過式/反射式から高精度スケールもお任せ下さい。 その他、補強板・両面テープやハブ等とのアッセンブリーも承っており、 海外工場での量産も可能です。
半導体向けインプロセス中におけるウェハー厚み測定センサーのご紹介！
当資料は、ウェハー厚み測定センサーについて掲載しています。 接触ゲージとの置換に好適な「CHRocodile 2シリーズ」をはじめ、 半導体インプロセス向け光学測定ヘッドのデザインなどをご紹介。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■CHRocodile 2シリーズ ■半導体インプロセス向け光学測定ヘッドのデザイン ■利点：色収差共焦点原理による使用 ■利点：分光干渉原理による使用 ■ウェハーインプロセス中のSi厚み測定データ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ケーブル貫通部の膜で防水・防塵性能を保持！片側から押し込むだけの簡単取付！
当社で取り扱っている『ワンタッチグロメット』についてご紹介いたします。 弾力のある薄膜がケーブルにぴったり密着するため、ケーブルを動かしても 高い防水・防塵性能を保つ「BU-100シリーズ(フレキシブルタイプ)」と、 劣化しにくい素材を使用しているため、紫外線や潮風にさらされても高い 防水・防塵性能が持続する「BU-200シリーズ(耐候タイプ)」の2種類をご用意。 照明やコントローラーなどケーブルが頻繁に動く機器をはじめ、住宅の分電盤や 船上の機材など屋外や沿岸部の機器に適しています。 【特長】 ■ケーブル貫通部の膜で防水・防塵性能を保持 ■工具での穴開け作業が不要のため、保護等級を損なわない ■片側から押し込むだけの簡単取付 ■タップ穴加工・ナット締め・増し締めが不要 ■ケーブルを貫通させるだけで配線完了 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
非接触厚み及び形状計測センサーについて掲載しています！
当資料は、CHRocodileシリーズをご紹介しています。 「CHRocodileの測定原理」をはじめ、「干渉センサー」や 「CHROMATIC VISION CAMERA」などについて掲載。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容(抜粋)】 ■CHRocodileの測定原理について ■原理1：共焦点位置測定モード(表面形状・粗さ測定) ■CLS外観 ■CLS用プローブ ■CLSコントローラー ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
インライン検査に。70,000ポイント/秒のスキャンに対応。膜厚も測定可能。半導体ウエハ検査用途に。
当社では、最大直径80mmの3D形状測定が高速で行える 超高速光学スキャナー『Flying Spot Scanner(FSS)』と、 専用センサを組み合わせたシステムを提供しています。 平坦度、厚み、形状、縦と横の層と部品配置などを 高精度かつスピーディーに測定可能。 センサも幅広く取り揃えており、 要求される測定範囲や精度に合わせて選択できます。 【FSSの特長】 ■高精度：Z方向分解能最小5nm ■高速スキャン：70,000ポイント/秒 ■インライン測定に好適 ■測定範囲内なら自由に部分測定可能 ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。
