【半導体向け】超高画素CoaXPressカメラ
半導体ウエハの欠陥を高精度に検出。生産効率向上に貢献。
半導体業界では、製品の品質を確保するために、ウエハや基板の微細な欠陥を正確に検出することが不可欠です。特に、製造プロセスの高度化に伴い、欠陥のサイズはますます小さくなっており、従来の検査方法では見逃してしまう可能性があります。当社の超高画素CoaXPressカメラは、広視野角と超高精細な撮像能力により、微細な欠陥を高精度に検出します。これにより、不良品の流出を防止し、歩留まりを向上させることが可能です。 【活用シーン】 ・半導体ウエハの欠陥検査 ・基板の異物検査 ・電子部品の外観検査 【導入の効果】 ・微細な欠陥の検出精度向上 ・不良品の流出防止 ・歩留まりの向上
- 企業：株式会社シーアイエス
- 価格：応相談
