粒解析(lsi) - 企業1社の製品一覧

透過EBSD法による30nm以下の結晶粒解析

EBSD：電子後方散乱回折法

薄片化した試料でEBSD分析を行うことにより、従来のバルク試料よりも高い空間分解能を得ることができます。

• 企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
• 価格：応相談

• 受託解析