疑似同軸落射照明 IFVAシリーズ
高照度、高均一、コンパクト筐体を実現した擬似同軸落射照明
ハーフミラーを用いてカメラ軸と同じ軸で照射可能。 正反射での検査が可能なので表面の微細な傷の検査や印字、文字検査に有効。 基板のパターン検査やコネクタのピンのピッチ計測など幅広い用途に利用可能。
- 企業:株式会社レイマック 本社
- 価格:応相談
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高照度、高均一、コンパクト筐体を実現した擬似同軸落射照明
ハーフミラーを用いてカメラ軸と同じ軸で照射可能。 正反射での検査が可能なので表面の微細な傷の検査や印字、文字検査に有効。 基板のパターン検査やコネクタのピンのピッチ計測など幅広い用途に利用可能。
疑似同軸・ストレート疑似同軸で均一照射照明 ・
鏡面ワークに最適 ハーフミラーを用いてカメラ軸と同じ軸で照射可能。 正反射での検査が可能なので表面の微細な傷の検査や印字、文字検査に有効。 基板のパターン検査やコネクタのピンのピッチ計測など幅広い用途に利用可能。
高照度、高均一、コンパクト筐体を実現した擬似同軸落射照明
ハーフミラーを用いてカメラ軸と同じ軸で照射可能。 採用しているハーフミラーの改良により、IFVAシリーズと比べて解像力が大幅に高くなりました。 正反射での検査が可能なので表面の微細な傷の検査や印字、文字検査に有効。 基板のパターン検査やコネクタのピンのピッチ計測など幅広い用途に利用可能。
高照度、高均一、コンパクト筐体を実現したストレート擬似同軸落射照明
高照度、高均一、コンパクト筐体を実現したストレート擬似同軸落射照明 ハーフミラーを用いてカメラ軸に対し直交する軸で照射・撮像が可能。 IFVAに比べて高さ方向のスペースが削減でき、省スペース化を実現。 正反射での検査が可能なので表面の微細な傷の検査や印字、文字検査に有効。 基板のパターン検査やコネクタのピンのピッチ計測など幅広い用途に利用可能
★高速な画像処理に適した高輝度直線同軸落射照明★
●照明直下10mmの位置で50万Lx以上の照度が得られ、高速な画像処理に適したLED照明です。 ●カメラと同軸上から照射することにより平面部分が正反射し、曲面・エッジなどは影としてコントラスト良く撮像できるLED照明です。 ●ラインセンサー用に直線状の視野に対して均一な照射で画像処理に適したLED照明です。 ●LED直線ドーム照明とLED直線同軸落射照明を組み合わせることでより安定した画像処理が可能になります。 ●鏡面、非鏡面、凹凸のあるワークの画像処理に最適なLED照明(LED直線同軸落射照明)です。
LEDの写り込み無く撮像!文字検査などに最適な同軸落射照明
同軸落射照明 「FV SERIES」は、光沢のある金属やプラスチック、鏡面状の製品の欠陥検査・文字検査などに利用できます。 「OPT-FV18-R/W」をはじめ、「OPT-FV25-R/W」や、「OPT-FV30-R/W」など、多数の製品をラインナップしております。 【特徴】 ○24V仕様 ○アルミ筺体 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
擬似同軸落射照明IFVシリーズの高輝度版照明
鏡面ワークに最適 従来の擬似同軸落射照明IFVシリーズの高輝度版。 これまでの擬似同軸落射照明が暗くて使用できなかったワークに最適。 明るさは白色で従来品の約3〜5倍、青色は約7〜9倍になりました。
LED照明や高解像度レンズなど、画像処理用の周辺機器等の情報も掲載しております!
当資料では、画像処理に関するお役立ち事例についてまとめて ご紹介しております。 同軸落射照明を用いた解決事例にて、金属刻印の有無検出や、 エンボステープの凹み検出、ガラス部品の外観検査など、 多数の事例を掲載。 また、検査を成功に導くトータルラインアップや画像処理用の 周辺機器として多数の製品を紹介しております。ぜひご活用ください。 【掲載内容】 ■同軸落射照明を用いた解決事例 ・金属刻印の有無検出 ・エンボステープの凹み検出 ・ガラス部品の外観検査 ・CDのナンバー抽出 ■検査を成功に導くトータルラインアップ ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
★高照度と低価格を両立させた直線照明★ ★ワークに対して均一な面状の同軸光を照射★
●照明認識・調整器(以下ECIと略 Electronic Calibrate Identify)を搭載し、光shopのPWM電源と定電流電源のどちらも使用可 ●ハーフミラーによりカメラと同軸上に、光を落射させる構造で、ワークに対して均一な面状の同軸光を照射可 ●低価格なので、装置のトータルコストの低減に大きく貢献可能 ●照明方法:均一な同軸光で幅広い用途に使用可 ●ドーム照明TD型と連結可能(別売りアダプタ必要)