疑似同軸落射照明 IFVAシリーズ
高照度、高均一、コンパクト筐体を実現した擬似同軸落射照明
ハーフミラーを用いてカメラ軸と同じ軸で照射可能。 正反射での検査が可能なので表面の微細な傷の検査や印字、文字検査に有効。 基板のパターン検査やコネクタのピンのピッチ計測など幅広い用途に利用可能。
- 企業:株式会社レイマック 本社
- 価格:応相談
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高照度、高均一、コンパクト筐体を実現した擬似同軸落射照明
ハーフミラーを用いてカメラ軸と同じ軸で照射可能。 正反射での検査が可能なので表面の微細な傷の検査や印字、文字検査に有効。 基板のパターン検査やコネクタのピンのピッチ計測など幅広い用途に利用可能。
疑似同軸・ストレート疑似同軸で均一照射照明 ・
鏡面ワークに最適 ハーフミラーを用いてカメラ軸と同じ軸で照射可能。 正反射での検査が可能なので表面の微細な傷の検査や印字、文字検査に有効。 基板のパターン検査やコネクタのピンのピッチ計測など幅広い用途に利用可能。
高照度、高均一、コンパクト筐体を実現した擬似同軸落射照明
ハーフミラーを用いてカメラ軸と同じ軸で照射可能。 採用しているハーフミラーの改良により、IFVAシリーズと比べて解像力が大幅に高くなりました。 正反射での検査が可能なので表面の微細な傷の検査や印字、文字検査に有効。 基板のパターン検査やコネクタのピンのピッチ計測など幅広い用途に利用可能。
高照度、高均一、コンパクト筐体を実現したストレート擬似同軸落射照明
高照度、高均一、コンパクト筐体を実現したストレート擬似同軸落射照明 ハーフミラーを用いてカメラ軸に対し直交する軸で照射・撮像が可能。 IFVAに比べて高さ方向のスペースが削減でき、省スペース化を実現。 正反射での検査が可能なので表面の微細な傷の検査や印字、文字検査に有効。 基板のパターン検査やコネクタのピンのピッチ計測など幅広い用途に利用可能
LEDの写り込み無く撮像!文字検査などに最適な同軸落射照明
同軸落射照明 「FV SERIES」は、光沢のある金属やプラスチック、鏡面状の製品の欠陥検査・文字検査などに利用できます。 「OPT-FV18-R/W」をはじめ、「OPT-FV25-R/W」や、「OPT-FV30-R/W」など、多数の製品をラインナップしております。 【特徴】 ○24V仕様 ○アルミ筺体 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
擬似同軸落射照明IFVシリーズの高輝度版照明
鏡面ワークに最適 従来の擬似同軸落射照明IFVシリーズの高輝度版。 これまでの擬似同軸落射照明が暗くて使用できなかったワークに最適。 明るさは白色で従来品の約3〜5倍、青色は約7〜9倍になりました。
★高照度と低価格を両立させた直線照明★ ★ワークに対して均一な面状の同軸光を照射★
●照明認識・調整器(以下ECIと略 Electronic Calibrate Identify)を搭載し、光shopのPWM電源と定電流電源のどちらも使用可 ●ハーフミラーによりカメラと同軸上に、光を落射させる構造で、ワークに対して均一な面状の同軸光を照射可 ●低価格なので、装置のトータルコストの低減に大きく貢献可能 ●照明方法:均一な同軸光で幅広い用途に使用可 ●ドーム照明TD型と連結可能(別売りアダプタ必要)