電子顕微鏡のメーカーや取扱い企業、製品情報、参考価格、ランキングをまとめています。
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電子顕微鏡(化学分析) - メーカー・企業と業務用製品 | イプロスものづくり

更新日: 集計期間:2026年08月19日~2026年09月15日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。

電子顕微鏡の製品一覧

1~8 件を表示 / 全 8 件

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高分子材料研究、医薬品や電子・化学分野の異物分析や品質管理等に!

化学結合状態分析、バイオロジーからナノテクノロジー・ポリマー・最先端材料分野、電機・電子・自動車・機械・化学・薬品分野の研究等

様々な分野で活躍できる、日本電子株式会社の商品を3つご紹介いたします。 ご興味のある方はお気軽にお問い合わせください。 〇JPS-9030 光電子分光装置(XPS)  「誰もが、簡単に、直ぐに使えること」を実現した汎用型XPSです。カウフマン型エッチングイオンソースやツインアノードを標準装備の上、汎用XPSでありながら高温加熱システムやガスクラスターイオンソース等幅広い拡張性も備えています。 〇JEM-1400Flash 電子顕微鏡  高感度sCMOSカメラを標準搭載し超広視野モンタージュシステムや光学顕微鏡画像リンク機能などの強力な新機能を組み込んだ透過電子顕微鏡です。 〇JCM-7000 NeoScope ネオスコープ 卓上走査電子顕微鏡  誰でも観察・分析ができることを目指した卓上走査電子顕微鏡です。前処理不要な低真空モード、視野探しのためのステージナビゲーションシステムを備え簡単に使えます。光学像からSEM像にそのまま移行できるZeromag、観察しながら元素分析できるLive Analysis、SEM観察中に三次元観察が可能なLive 3D等の機能を搭載しました。

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  • その他理化学機器
  • 電子顕微鏡

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【分析事例】二次電池正極活物質の局所領域評価

活物質表層近傍の組成、結晶構造、化学状態評価が可能!

弊団では、二次電池正極活物質の局所領域評価を承っております。 リチウムイオン二次電池は充放電によるイオンの脱離・挿入や劣化に伴い、 活物質表層の結晶構造や金属元素の価数が変化することが知られています。 局所領域の評価としてTEMを用いて組成、結晶構造、化学状態の評価を行った本事例では、 EDXにより最表層にAlOxがコーティングされていることがわかりました。 また電子回折とEELSにより、活物質の表層と内部では 結晶構造および価数が異なっていることがわかりました。 【測定法・加工法】 ■[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法 ■[TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM) ■[TEM-EELS]電子エネルギー損失分光法 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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『空気非接触環境での受託分析サービス』※分析サンプル資料進呈

Na、Mg、Liなど。自動車・電子機器・機械部品分野における新素材・新製品の開発をサポート

当社では、『個々のニーズに応じた分析サービス』を提供。中でも、リチウム、ナトリウム、カリウム等、空気中の水分や酸素に触れると表面の状態が変化する物質を、活性な状態のままで分析を可能とする『空気非接触環境での分析サービス』でお役に立てます。 自動車・電子機器・化学・機械部品の研究・開発における 新素材・新製品の開発/隠れた性質の発見/基礎データの確認といったニーズにお応えしています。 ◎要望例 ・製造過程で溶け込んだ油分の熱分解の挙動が、水素、窒素など任意の雰囲気で違いが現れるかを知りたい ・合金等が、水素、窒素などの雰囲気ガスと反応するか、また、その反応する温度等を知りたい ・雰囲気を変えたらどうデータが変わるのかを知りたい ◎取扱品目 走査電子顕微鏡(SEM) 熱重量・示差熱・昇温脱離質量数分析(TG-DTA-MS) 粉末X線回折(XRD) 圧力-組成等温線(PCT)測定 高圧示差走査熱量分析(DSC) フーリエ変換赤外分光分析(FT-IR) ※空気非接触環境での分析サンプルはPDFダウンロードよりご覧いただけます。  お問合せ・分析のご依頼もお気軽にどうぞ。

  • 受託解析
  • その他顕微鏡・マイクロスコープ
  • 電子顕微鏡

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STEM(走査型透過電子顕微鏡)分析法

極小に絞った電子ビームを試料に照射!試料内部の原子像分布・形態などを画像化

当社で行っている「STEM(走査型透過電子顕微鏡)分析法」について ご紹介いたします。 原子像やサブnmオーダーで物質の構造を捉えることが出来、 明視野観察で構造情報を、暗視野像やHAADF像観察で物質の密度・ 元素情報を得ることが可能。 また、物質界面などの極微小領域での結晶状態・結晶方位を直接的に 観測することが出来ます。 【特長】 ■原子像やサブnmオーダーで物質の構造を捉えることが出来る ■物質界面などの極微小領域での結晶状態・結晶方位を直接的に  観測することが出来る ■高面分解能画像観察により結晶欠陥を直接観察することも可能 ■極微小領域での元素・組成情報を得ることが出来る ■SEM-EDS法では検出できない微小領域や微量の分析が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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  • 分析機器・装置
  • 受託解析
  • 電子顕微鏡

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【分析事例】ABF-STEM観察によるGaNの極性評価

Csコレクタ付STEMにより原子レベルでの観察が可能です

パワーデバイス・光デバイスとして実用化されているGaNは六方晶ウルツ鉱構造をとり、c軸方向に結晶学的な非対称性(Ga極性とN極性)が存在します。Ga極性とN極性ではエピタキシャル膜の成長プロセスが異なるほか、結晶の表面物性・化学反応性も異なります。 本資料では、GaNの極性を環状明視野(ABF)-STEM観察により評価しました。その結果、Gaサイト・Nサイトの位置を特定することができ、視覚的にGa極性、N極性の様子を明らかにすることができました。 測定法:TEM 製品分野:パワーデバイス・光デバイス 分析目的:形状評価・構造評価・膜厚評価 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。

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有機化学や材料科学の研究、原子分解能での観察などに!

アズサイエンスおすすめの電子顕微鏡、偏光顕微鏡、質量分析計のご紹介

おすすめの3製品をご紹介いたします。 ◆日本電子株式会社 JEM-ARM200F NEOARM 原子分解能分析電子顕微鏡  冷陰極電界放出形電子銃(Cold-FEG)と高次の収差まで補正可能な新型球面収差補正装置(ASCOR)を標準搭載し、200 kVの高加速電圧だけでなく30 kVの低加速電圧においても原子分解能での観察を実現しました。軽元素を含む材料の明瞭なコントラスト観察が容易になります。 ◆株式会社ニコンソリューションズ 偏光/分散顕微鏡 ECLIPSE LV100ND POL/DS  屈折率、複屈折、遅延、消光角、多色性および伸びの徴候などのアスベストの特性を測定し、アスベストの同定を助けることができます。400倍の倍率で分散染色観察を可能にします。 ◆日本電子株式会社 JMS-T100LP AccuTOF LC-Express 大気圧イオン化 飛行時間質量分析計  マルチイオン化・堅牢性・容易なメンテナンスを特長とした高い生産性を目指したハイスループット質量分析計です。低極性から高極性まで、幅広い試料を分析することが可能です。

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日本電子 NEW 卓上電子顕微鏡新製品 JCM7000Plus

9月1日グレードアップ 光学像からSEM観察、元素分析まで 高機能ながらもユーザーフレンドリーな高い操作性

新機能「Live Particle」:粒子のサイズや個数を自動計測することで作業を簡略化 新機能「Live Report」:視野移動をしながらのデータ取得とレポート作成で作業効率アップ 「Zeromag」    :光学像を拡大すればそのままSEM像が観察できる機能を搭載。サンプルの光学像を取得し、その画像にステージの座標位置を連動させ光学像からSEM像へとシームレスに切り替えます。目で⾒たままの光学像で容易に視野探しが可能です。 「Live Analysis」  :観察しながら分析も同時に⾏える、観察画面上の元素分布を表示できる「LiveMap」 「インスタント機能」:任意の場所を分析できるの3つのスクリーニング機能 「Live 3D」     :SEM観察中に三次元観察が可能。 高真空、低真空モード標準搭載  <高真空モード>⾼い倍率で鮮明なSEM観察。電⼦線の散乱を少なくし精度の⾼いEDS分析が可能。観察も分析も質の⾼いデータが出せます。  <低真空モード>ガラスやプラスチックなどの絶縁物試料をコーティングなしで観察、分析できます。

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卓上電子顕微鏡 実機お持ち込みデモンストレーション案内

お客様へ丸文通商が操作性抜群の卓上電子顕微鏡をお持ち込みし、覧いただきます

「Zeromag」    :光学像を拡大すればそのままSEM像が観察できる機能を搭載。サンプルの光学像を取得し、その画像にステージの座標位置を連動させ光学像からSEM像へとシームレスに切り替えます。目で⾒たままの光学像で容易に視野探しが可能です。 「Live Analysis」  :観察しながら分析も同時に⾏える、観察画面上の元素分布を表示できる「LiveMap」 「インスタント機能」:任意の場所を分析できるの3つのスクリーニング機能 「Live 3D」     :SEM観察中に三次元観察が可能。 高真空、低真空モード標準搭載  <高真空モード>⾼い倍率で鮮明なSEM観察。電⼦線の散乱を少なくし精度の⾼いEDS分析が可能。観察も分析も質の⾼いデータが出せます。  <低真空モード>ガラスやプラスチックなどの絶縁物試料をコーティングなしで観察、分析できます。 JCM7000を直接ご覧いただける デモンストレーションサービス デモ対象エリア:北陸(富山県 石川県 福井県)甲信(長野県 山梨県)関東(埼玉 群馬 静岡 神奈川)中部関西(岐阜県 滋賀県) のお客様お問い合わせください

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