木村電子工業株式会社
総合アセンブリー・コーディネート企業として、電気ユニット・装置の一貫生産
◆ 主要製品 電子顕微鏡・半導体関連装置・高周波発振機、医療機器・各種分析機器 木村電子工業はモノづくりのプロとして、多様化する技術の先取りに努め 積極的に設備投資し、お客様の期待に高品質で応えます ※製品の詳細は、企業PRレポートをダウンロード頂くかお問い合わせください。
- 企業:青梅線沿線地域産業クラスター協議会
- 価格:応相談
更新日: 集計期間:2026年08月12日~2026年09月08日
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総合アセンブリー・コーディネート企業として、電気ユニット・装置の一貫生産
◆ 主要製品 電子顕微鏡・半導体関連装置・高周波発振機、医療機器・各種分析機器 木村電子工業はモノづくりのプロとして、多様化する技術の先取りに努め 積極的に設備投資し、お客様の期待に高品質で応えます ※製品の詳細は、企業PRレポートをダウンロード頂くかお問い合わせください。
30nmから5μmの切片作製が可能!材料系解析事例を複数ご紹介した資料です!
当資料は、株式会社花市電子顕微鏡技術研究所が行った材料系解析を まとめた事例集です。 「ウルトラミクロトーム」では、生物組織、金属メッキ層や無機蒸着 層を含む複合材料、ナノ粒子など幅広い分野における高品質な超薄切片 および断面作製に適応可能です。 当社では、受託分析を始めました。協力機関とタイアップして材料分析を 実施致します。 【掲載事例】 ■リポソームの構造解析 ■HIPSの構造解析 ■レンズ断面の構造解析 ■菓子袋の断面観察 ■分散法による金属粒子の形態観察(金属微粒子/金属担持カーボン) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
×7.000 挿入写真 細胞膜(×100,000)で解析!細胞膜は幅約7nmの2重構造であることが判ります
当社が行った『肝細胞(ブタの肝臓)』の解析事例をご紹介します。 肝臓は脂質、蛋白の合成、薬剤などの代謝と除去、エネルギーの貯蔵など 多くの機能を有しており、これを構成しているのがほとんど肝細胞です。 その他毛細胆管(BC)や血管(HS)があり血管の中には血液細胞(EC,Kf)が みられます。 挿入写真は隣り合った細胞の細胞膜の拡大で、それぞれの細胞膜は 幅約7nmの2重構造であることが判ります。 また、肝細胞は一般的な細胞の構造と機能を解説する時に常に引き合いに 出されるくらい、典型的な細胞小器官を持っています。 【解析概要】 ■解析対象:肝細胞(ブタの肝臓) ■それぞれの細胞膜は幅約7nmの2重構造であることが判る ■肝細胞は一般的な細胞の構造と機能を解説する時に常に引き合いに 出されるくらい、典型的な細胞小器官を持っている ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
応用範囲が広い光学顕微鏡観察からSEM観察、EDX元素分析までの流れをご紹介!
解析手法の基本的で応用範囲が広い光学顕微鏡観察からSEM観察、 EDX元素分析までの流れをご紹介致します。 光学顕微鏡による観察は基本的な観察手法の一つであり、大まかな 形状観察等を素早く行えます。また、特長は色情報が得られる事で、 腐食等の変食を伴う異常の観察に活躍。 当資料では、この他にも「SEMによる観察」や「EDXによる元素分析」を 写真やグラフを用いて詳しく解説しております。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■光学顕微鏡による観察 ■SEMによる観察 ■EDXによる元素分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
チップ抵抗器の断面観察と銅配線部の断面観察等に好適な観察方法をご紹介します!
観察装置選択のご参考となるよう、金属顕微鏡・W-SEM・FE-SEMの 見え方の違いをご紹介します。 チップ抵抗器の断面観察の際は、金属顕微鏡だと低倍率で 観察しづらい部位がありますが、SEM観察なら焦点深度が 深いため低倍率でも平坦度の高い画像が得られます。 銅配線部の断面観察の際は、W-SEMでも銅-樹脂界面や クラック内部の状態が観察可能ですが、FE-SEMなら 結晶粒や接続界面の微小ボイドまで鮮明に観察可能です。 【比較】 ■チップ抵抗器の断面観察 金属顕微鏡vs W-SEM 観察像の比較 ■銅配線部の断面観察 W-SEM vs FE-SEM 観察像の比較 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
FFTM法による格子像解析
Fast Fourier Transform Mapping法は、高分解能TEM像をフーリエ変換し、FFTパターンのスポット位置から結晶の微小な格子歪みを解析、可視化する方法です。FFTM解析により、(1)画像のx、 y方向の格子歪みの解析、(2)結晶面方向の格子歪みの解析、(3)結晶面間隔分布、結晶面方位分布の解析、(4)データ分布のヒストグラム表示、(5)空間分解能5nmで0.5%の歪の検出、が可能です。 化合物ヘテロ接合多層膜試料に適用した例を示します。
目的箇所のみサンプリングし、ウェハを割らずにサンプル作製します
ウェハ・チップを割らずに小片を抜き出して薄片化し、高分解能TEM観察・分析を行います。 さらに分析したい箇所を残してカットしてサンプルを作製することで、目的箇所をご要望のあらゆる方向からTEM観察・分析し、データをご提供します。高度なTEMサンプル作製技術を通じて、様々な観察・分析・評価ニーズにお応えします。
ゲート・ソース層・ボディ層の位置関係がわかります
市販パワートランジスタ(DMOSFET) について、ポリSi ゲートとn型ソース層およびp型ボディ層の形状・位置関係を調べました。 AFM像と重ねることでゲートとの位置関係も知ることができます。
SEMによる電子線誘起電流法・結晶方位解析
CIGS薄膜多結晶太陽電池は低コスト次世代太陽電池として期待されています。大面積化、高品質化のための開発が進められています。多結晶薄膜の特性を評価するため、EBICによるpn接合の評価・EBSD法による結晶粒評価を同一断面で行いました。CIGS膜の断面を作製し、電子ビームを走査することによって、起電流(EBIC)を測定し、起電流の面内分布を可視化しました。また、同一面のEBSDを測定することにより、起電流の分布と結晶粒との対応をとりました。
SEMによる結晶方位解析
CIGS薄膜多結晶太陽電池は低コスト化・大面積化・高品質化を期待されている次世代の太陽電池として開発が進められており、その際に結晶情報が必要とされています。EBSD法ではCIGS膜の結晶粒評価が可能です。 EBSD法で得られる結晶情報は主に配向性・結晶粒径などです。
FIB法による特定箇所の平面TEM観察
ナノオーダーでの加工が可能なFIB技術を用いることにより、特定箇所の平面TEM観察が可能です。 これにより、断面からの観察では構造の確認が困難なホール側壁のキャパシタ絶縁膜のONO三層構造(シリコン酸化膜/シリコン窒化膜/シリコン酸化膜)が確認できます。
クライオSEMを用いた液体状試料の断面構造観察
液体に分散させて用いる微粒子の粒径・構造を評価する際、従来は液体を乾燥させて粉体として微粒子を取り出し、電子顕微鏡を用いて測定しておりました。しかしながら、実際に用いる液体中で微粒子がどのように分散しているのかを調べるには不向きな測定法でした。 そこで、液体試料内で微粒子がどのように分散しているかを直接評価するため、クライオ加工+SEM観察を行って評価した事例をご紹介します。
雰囲気制御イオン研磨(IP)加工を用いた断面観察が可能
リチウムイオン二次電池の電極は、容量等電池の性能や信頼性を大きく左右する非常に大きな構成材料です。充放電サイクル試験後の電極材料を雰囲気制御下でイオン研磨(IP)加工を行うことで、大気暴露による劣化を抑えて正確に観察することができます。 今回、充放電後のリチウムイオン二次電池の正極材料に関して、雰囲気制御効果をIP加工後のSEM観察結果を比較することで検証した事例をご紹介します。
PLマッピングで検出した結晶欠陥の高分解能TEM観察
PL(フォトルミネッセンス)マッピングでは、発光箇所から結晶欠陥位置の特定が可能です。 更に同一箇所を高分解能STEM観察(HAADF-STEM像)を行うことで積層欠陥を捉えることができます。 本事例では、市販のSiCパワーデバイスについてPLマッピングとSTEMを用いて調査を行いました。 PLマッピングにより積層欠陥位置を特定後、欠陥端部分についてμサンプリングを行い、断面STEM観察を実施しました。
スマートフォン部品のリバースエンジニアリング
市販品のスマートフォンからレンズ、CMOSセンサチップをそれぞれ取り出し、評価した事例をご紹介します。 目的に応じて研磨・FIB加工により、平面、断面を作製し、TEM、SEMにより層構造やレイヤーを確認しまた。さらに、EDXにより膜種の同定を行いました。MSTでは、解体から分析まで一貫してお引き受けが可能です。
SEM像の3D化でリークパスを確認
裏面エミッション顕微鏡でリーク箇所を特定したSiCトランジスタについて、Slice&Viewによる断面SEM観察を行いました。Slice&Viewでは、リーク箇所周辺から数十nmオーダーのピッチで断面観察を行うことにより、リーク箇所を逃さず画像として捉えることが可能です。SEM画像を3D化することでリークパスを確認することができます。 測定法:Slice&View・EMS 製品分野:パワーデバイス 分析目的:故障解析・不良解析・製品調査 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。
Slice&Viewで特定したゲート破壊箇所で拡大観察やEDX分析が可能
裏面エミッション顕微鏡でリーク箇所を特定したSiCトランジスタについてSlice&Viewを行い、破壊を確認した箇所で拡大観察とSEM-EDX分析を行いました。反射電子像で明るいコントラストが見られる場所では、SiやNiの偏析が確認されました。リークによる破壊に伴い、SiやNiなどが一部偏析しているものと考えられます。 測定法:Slice&View・SEM-EDX・EMS 製品分野:パワーデバイス 分析目的:故障解析・不良解析・製品調査 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。
微細なCNFの分散状態や樹脂のラメラ晶を観察!TEM観察とSEM観察の特長もご紹介
当社ホームページでは「セルロースナノファイバー(CNF)複合材料の 形態観察」についてご紹介しております。 「HDPE/CNFのTEM観察事例」や「HDPE/CNFのSEM観察事例」の 写真を掲載。 TEM観察では、微細なCNFの分散状態、これを取り囲む樹脂のラメラ晶が 観察でき、SEM観察では、比較的大きなCNFの分散状態を観察できます。 【掲載写真】 ■HDPE/CNFのTEM観察事例 ■HDPE/CNFのSEM観察事例 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
走査型電子顕微鏡(SEM)、透過型電子 顕微鏡(TEM)でセルロースナノファイバー(CNF)の構造を観察!
当社で行った「セルロースナノファイバー(CNF)観察」について ご紹介いたします。 これまで培ってきた樹脂材料の走査型電子顕微鏡(SEM)観察、透過型電子 顕微鏡(TEM)観察のノウハウを生かして、市販されているセルロースナノ ファイバー(CNF)試料を観察。 表面または断面から、nmオーダー太さのCNFミクロフィブリル1本まで 鮮明に見ることができました。 【観察内容】 ■走査型電子顕微鏡(SEM)観察 ・CNFをより細かく分散 ■透過型電子顕微鏡(TEM)観察 ・細かく分散させたCNFの断面観察 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
これまでに培ったSEMによる形態観察技術で、食品容器包装材料の層構成の観察が可能です!!
固形ルウの容器は食品の保存性が必要なことから、容器は多層構造になっています。 このような食品容器も、電子顕微鏡で断面観察することで層構成を明らかにすることが出来ます。 ある市販の固形ルウの容器は、FE-SEM観察から約3μm~約40μmの厚みの7層の多層構造で あることが分かりました。 これをもとに更に材質分析(*1)をFT-IRやラマン分析で進めた結果、各層の材質についても 把握することが出来ました。 また、容器の保存性についても、酸素透過度、水蒸気透過度の測定(*2)で把握することができます。 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
企業交流展示会にて弊社サービスをご紹介いたします!
2023年11月8日(水)につくば国際会議場にて開催されます、 フード・フォーラム・つくばの企業交流展示会に出展いたします。 本展示会は、 食品に関わる企業が自社の製品や技術をアピールする展示会であり、 機器や商品などの展示に加えて デモンストレーションやサンプル配布などを行っております。 弊社ブースでは、以下のサービスをご紹介いたします。 ・ 食品の電子顕微鏡観察 ・ アミノ酸・ジペプチドの分析 お近くにお越しの際はぜひ足をお運びいただけますと幸いです。 みなさまのお越しをお待ちしております。
新しい透過電子顕微鏡
日本電子株式会社 JEM-1400Flashは、高感度sCMOSカメラや超広視野モンタージュシステム、さらには光学顕微鏡画像と電子顕微鏡のリンク機能を拡張させた加速電圧は120kVの新しい透過電子顕微鏡です。スループット良く、ハイスピードでデータを取得できます。 〇特長 ・高感度sCMOSカメラ 瞬Flashカメラ ・新機能 超広視野モンタージュシステム Limitless Panorama(LLP) ・新機能 光学顕微鏡画像リンク機能 Picture Overlay ・新デザイン ピュアホワイトカラーとLEDランプのコラボレーション ※詳細はPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
アズサイエンスおすすめの電子顕微鏡、偏光顕微鏡、質量分析計のご紹介
おすすめの3製品をご紹介いたします。 ◆日本電子株式会社 JEM-ARM200F NEOARM 原子分解能分析電子顕微鏡 冷陰極電界放出形電子銃(Cold-FEG)と高次の収差まで補正可能な新型球面収差補正装置(ASCOR)を標準搭載し、200 kVの高加速電圧だけでなく30 kVの低加速電圧においても原子分解能での観察を実現しました。軽元素を含む材料の明瞭なコントラスト観察が容易になります。 ◆株式会社ニコンソリューションズ 偏光/分散顕微鏡 ECLIPSE LV100ND POL/DS 屈折率、複屈折、遅延、消光角、多色性および伸びの徴候などのアスベストの特性を測定し、アスベストの同定を助けることができます。400倍の倍率で分散染色観察を可能にします。 ◆日本電子株式会社 JMS-T100LP AccuTOF LC-Express 大気圧イオン化 飛行時間質量分析計 マルチイオン化・堅牢性・容易なメンテナンスを特長とした高い生産性を目指したハイスループット質量分析計です。低極性から高極性まで、幅広い試料を分析することが可能です。
参加費無料!MicroEDを利用した絶対立体配置の決定について報告
当社では、「MicroED結晶構造解析の基礎と応用 パート2~MicroEDを 利用した絶対立体配置の決定について~」ウェビナーを開催いたします。 今回は“パート2"と称しまして電子線の多重散乱効果を十分に考慮した “絶対立体配置の決定"に関してご紹介。 本手法は、軽元素のみで構成される分子における絶対立体配置の決定に 関しても驚異的な威力を発揮する優れた手法となります。 解析事例として本ウェビナーでは、複雑な天然物、合成医薬品原薬に対する MicroEDによる絶対立体配置の決定について報告いたします。 【開催概要】 ■開催日時:2024年10月15日(火)14:00~14:45 ■参加:無料 ■会場:Microsoft Teamsによるウェビナー開催 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
光学顕微鏡よりもはるかに細かい部分まで見ることができます!
電子顕微鏡は、光の代わりに電子を使って物を拡大して見ることが できる特別な顕微鏡です。 電子は光よりも波長が短いので、光学顕微鏡よりもはるかに細かい 部分まで見ることができます。 また主に2つの種類があり、一つは、透過型電子顕微鏡(TEM)で、 もう一つは走査型電子顕微鏡(SEM)です。 【特長】 ■透過型電子顕微鏡 ・試料に電子線を照射し、透過した電子線を検出することで試料の 内部構造を観察することができる ■走査型電子顕微鏡 ・試料に電子線を照射して生じる反射電子や二次電子を検出することで 試料表面の形態を観察することができる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。