光源：赤色半導体レーザ(波長 670nm クラス3B) 最小検査可能口径：Φ4 最大有効測定長：200mm 最小画素分解能：0.01mm 最小検出サイズ：0.2mm 繰り返し精度：±1分解能

• 外観検査装置

【基本仕様】 方式：光学スキャニング方式 光源：赤色半導体レーザー レーザークラス：クラス3B 検出成分：直接光 対象口径：Φ4mm～ 回転数：15,000rpm 有効測定長：50～200mm サンプリング周波数：～2400kHz 検出サイズ 0.1mm 電源：100, 200V ●詳しくはお問い合わせください。

• 外観検査装置

【検証の手順】 ■データ準備（お客様） ■データ分析、レポート作成 ■DEEP-EYE導入判断 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• ソフトウェア（ミドル・ドライバ・セキュリティ等）

FOCUSは数十万～数百万以上の検査データから、NG発生低減策を検討するための統計・分析ツールです。 　【特長】 　　１．NG発生推移グラフからＮＧ発生傾向や変化点を確認 　　２．欠陥種（判定条件）別に発生欠陥数を集計 　　３．欠陥発生位置を画像から確認。画像を連続表示して動画にすることも可能 　　４．判定条件を見直したとき、蓄積された検査データから再検証が容易

• 外観検査装置

【基本仕様】 型式：SG-LSDC-6-203 方式：光学スキャニング方式 光源：赤色半導体レーザー（波長635nm～670nm 最大40mW） レーザークラス：クラス2～3B 検出成分：直接光 対象口径：Φ8mm～ 回転数：18,000rpm（従来比20%up） 有効測定長：200mm サンプリング周波数：～2400kHz（従来比340%up） 検出サイズ 0.1mm（従来比200%up） 電源：100, 200V ●詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをダウンロードしてください。 ●検査口径、測定長など、特注も承っております。(詳細はお問合せください)

• 欠陥検査装置

【基本仕様】 型式：SG-LSDC 方式：光学スキャニング方式 光源：赤色半導体レーザー（波長635nm～670nm 最大40mW） レーザークラス：クラス2～3B 検出成分：直接光 対象口径：Φ4mm～ 回転数：10,000rpm 有効測定長：50mm サンプリング周波数：～800kHz 電源：100, 200V ●詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをダウンロードしてください。 ●検査口径、測定長など、特注も承っております。(詳細はお問合せください)

• 欠陥検査装置

【お試しテスト（無料）】 　　＜検証・レポート内容＞検査データ取得、指定欠陥判別条件作成 　　＜検査数＞最大１０個（穴） 　　＜料金＞無料 【設備利用サービス（有料）】 　　＜検証・レポート内容＞ 　　　弊社設備を検証や研究等にご利用頂けます。（穴ライザー機器 + 簡易治具を提供） 　　　ご要望に応じて弊社技術員がサポートを行います。 　　＜検査数＞無制限 　　＜料金＞ 　　　基本料金 : 50,000円/日 　　　技術員サポート : 30,000円/日 【スタンダードテスト（有料）】 　　＜検証・レポート内容＞ 　　　検査データ取得、指定欠陥判別条件作成、芯ずれ(傾き)許容検証、マシンタイム(MT)検証、いじわるテスト(外乱光、水滴痕) 　　＜検査数＞最大50個(穴) 　　＜料金＞ 　　　基本料金 : 50,000円(20個(穴)まで)　　　※21個(穴)目から1,000円/個加算 【カスタマイズテスト（有料）】 　　＜検証・レポート内容＞ 　　　ご要望に応じて対応、シグマより検証内容をご提案 　　＜検査数＞無制限 　　＜料金＞都度お見積り

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