分光器 - 企業ランキング(全45社)

更新日：2026年11月11日集計期間:2026年10月14日〜2026年11月10日
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会社名	企業情報	代表製品
会社名	企業情報	製品画像・製品名・価格帯	概要	用途/実績例
一般財団法人材料科学技術振興財団　MST	所在地東京都事業内容 100種類以上の分析手法とAIを活用したデータ解析を組み合わせ、課題に応じたオーダーメイドの分析をご提案します。幅広い分野で培った実績をもとに、解析から報告まで一貫して対応します。 ■対応分野エレクトロニクス分野：LSI・メモリ、ディスプレイ、酸化物半導体、パワーデバイス、照... 主要取引先半導体・製造装置メーカー、国内自動車・電機メーカー、食品メーカー、化粧品メーカー、医薬品メーカー	［UPS］紫外光電子分光法応相談	測定試料の仕事関数値よりも高いエネルギーを持つ紫外光を照射することで、試料表面から電子が放出されます。（紫外光：He I線21.22eV）放出された電子の運動エネルギー分布（右図）から試料の価電子状態を得、更にスペクトル幅より仕事関数は以下の表式を用いて求めます。	・Au、Ag、Cuなど金属膜の仕事関数評価・TiNなど窒化膜の仕事関数評価・酸化物半導体のイオン化ポテンシャル評価・太陽電池材料の価電子帯評価
		［TEM-EELS］電子エネルギー損失分光法応相談	EELSとは、入射した電子線が試料内の電子を励起する際に失ったエネルギーを測定することで、試料の組成や元素の結合状態を分析する分光法です。 EELSは大きく分けて3つの領域に分けられます。１：ゼロロス試料と相互作用せずに透過してきた電子、および弾性散乱した電子２：価...	■微小領域（0.2nm～1μm）の組成分析・面分析・定性分析－軽元素、遷移元素の評価・元素の化学状態評価－カーボンの結晶質/非晶質－相転移、化合物の結合状態評価・試料の厚み評価
		【分析事例】角度分解XPS（ARXPS）による極薄膜組成分布評価応相談	詳しいデータはカタログをご覧ください	LSI・メモリの分析です
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一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

所在地

東京都

事業内容

100種類以上の分析手法とAIを活用したデータ解析を組み合わせ、課題に応じたオーダーメイドの分析をご提案します。幅広い分野で培った実績をもとに、解析から報告まで一貫して対応します。 ■対応分野エレクトロニクス分野：LSI・メモリ、ディスプレイ、酸化物半導体、パワーデバイス、照...

主要取引先

半導体・製造装置メーカー、国内自動車・電機メーカー、食品メーカー、化粧品メーカー、医薬品メーカー

代表製品

［UPS］紫外光電子分光法

概要

測定試料の仕事関数値よりも高いエネルギーを持つ紫外光を照射することで、試料表面から電子が放出されます。（紫外光：He I線21.22eV）放出された電子の運動エネルギー分布（右図）から試料の価電子状態を得、更にスペクトル幅より仕事関数は以下の表式を用いて求めます。

用途/実績例

・Au、Ag、Cuなど金属膜の仕事関数評価・TiNなど窒化膜の仕事関数評価・酸化物半導体のイオン化ポテンシャル評価・太陽電池材料の価電子帯評価

［TEM-EELS］電子エネルギー損失分光法

概要

EELSとは、入射した電子線が試料内の電子を励起する際に失ったエネルギーを測定することで、試料の組成や元素の結合状態を分析する分光法です。 EELSは大きく分けて3つの領域に分けられます。１：ゼロロス試料と相互作用せずに透過してきた電子、および弾性散乱した電子２：価...

用途/実績例

■微小領域（0.2nm～1μm）の組成分析・面分析・定性分析－軽元素、遷移元素の評価・元素の化学状態評価－カーボンの結晶質/非晶質－相転移、化合物の結合状態評価・試料の厚み評価

【分析事例】角度分解XPS（ARXPS）による極薄膜組成分布評価

概要

詳しいデータはカタログをご覧ください

用途/実績例

LSI・メモリの分析です
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事業内容

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