膜厚計 - 企業ランキング(全45社)
更新日： 集計期間:2025年08月20日〜2025年09月16日
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企業情報を表示
| 会社名 | 代表製品 | ||
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| 製品画像・製品名・価格帯 | 概要 | 用途/実績例 | |
| 【そのほかの特長】 ■光干渉法により非接触・非破壊で測定が可能 ■基材（ガラス・プラスチック）を選ばず測定可能 ■最大3層の多層膜を測定可能 | 【測定対象】 ■光学用フィルム ■包装用フィルム ■産業資材用フィルム ■ハードコート ■防曇コート ■防水防湿コート ■反射防止膜 ■離型剤コート ■接着層 ■半導体（薄膜） | ||
| ■多層厚み測定が可能 ■テンポラリーウェーハ(仮貼り合わせウェーハ)の各層厚み測定が可能 | 【用途】 ■各種ウェーハ(Silicon、その他化合物ウェーハ)厚み測定 ■各種 研削・研磨・貼り合わせなどへのプロセスへの組み込み ■ウェーハ以外の厚膜部材厚み測定 | ||
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大塚電子株式会社
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- 代表製品
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その場で測れる！ハンディタイプの高精度 膜厚計
- 概要
- 【そのほかの特長】 ■光干渉法により非接触・非破壊で測定が可能 ■基材（ガラス・プラスチック）を選ばず測定可能 ■最大3層の多層膜を測定可能
- 用途/実績例
- 【測定対象】 ■光学用フィルム ■包装用フィルム ■産業資材用フィルム ■ハードコート ■防曇コート ■防水防湿コート ■反射防止膜 ■離型剤コート ■接着層 ■半導体（薄膜）
分光干渉式ウェーハ膜厚計 SF-3
- 概要
- ■多層厚み測定が可能 ■テンポラリーウェーハ(仮貼り合わせウェーハ)の各層厚み測定が可能
- 用途/実績例
- 【用途】 ■各種ウェーハ(Silicon、その他化合物ウェーハ)厚み測定 ■各種 研削・研磨・貼り合わせなどへのプロセスへの組み込み ■ウェーハ以外の厚膜部材厚み測定
顕微分光膜厚計 OPTM series
- 概要
- 用途/実績例
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大塚電子株式会社
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